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第六代 Thermo Scientific Phenom ProX G6 Desktop SEM 可填补光显微镜和落地式 SEM 分析之间的差距,扩展了研究设施的能力。除了集成式能量色散 X 射线衍射 (EDS) 检测器之外,还提供快速、高分辨率的成像,可实现可靠、易用的快速元素分析。

主要特点

可靠且使用方便

Phenom Pro Desktop SEM 可减轻落地式 SEM 仪器常见样品的常规分析负担。仪器配置和样品加载机制可确保快速成像,并在两次实验之间花费最少的时间进行调整。

长寿命的 CeB6

任何经验水平的设施用户均可通过 Phenom Pro Desktop SEM 快速开始生成高质量结果。它经久耐用的 CeB6 源在需要较低维护的情况下也能提供高亮度。

坚固和小巧的外形

它的高稳定性和小外形尺寸使得该仪器几乎可以在任何实验室环境中使用;简而言之,它不需要专门的基础设施或专家监督。


规格

产品表格规范样式表
光学放大率
  • 27–160x
电子光学放大率范围
  • 160-350,000x
分辨率
  • ≤ 6 nm SED 和 ≤ 8 nm BSD
数字变焦
  • 最大 12x
光学导航摄像头
  • 彩色
加速电压
  • 默认: 5 kV、10 kV 和 15 kV
  • 高级模式:可在 4.8 kV 至 20.5 kV 成像与分析模式之间调节范围
真空模式
  • 高真空模式
  • 通过可选低真空样品架实现减少电荷模式
检测器
  • 背散射电子检测器(标配)
  • 能量色散型 X 射线检测仪(标配)
  • 二级电子检测器(可选)
样本尺寸
  • 最大直径 25 mm (可选 32 mm)
样品高度
  • 最大 35 mm (可选 100 mm)

台式扫描电镜博客

是否想在不影响可用性的前提下释放扫描电子显微术的强大功能?在我们的 Phenom Desktop SEM 博客中,加深您对台式扫描电子显微术的了解,并了解台式 SEM 如何为您的研究提供最佳支持。

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  • 开展更多研究—在两分钟内完成成像和分析
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  • 如何满足不同微区分析模式的需求(EDX、EBSD、WDS、CL 等)。
  • 如何自然状态下表征样品,从而无需进行样品制备。
  • 先进的自动化技术如何使研究人员节省时间并提高生产率。

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应用

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技术

EDS元素分析

EDS为电子显微镜观察提供重要的组分信息。尤其是我们独特的Super-X和Dual-X检测器系统添加了提高通量和/或灵敏度的选项,使您可以优化数据采集以满足您的研究优先级。

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3D EDS断层扫描

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使用EDS进行原子级元素映射

原子分辨率EDS通过区分单个原子的元素特性,为材料分析提供无与伦比的化学环境。当与高分辨率透射电镜TEM结合时,可以观察样品中原子的精确组织。

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对热样品进行成像

在现实条件中,研究材料通常需要在高温下工作。在热量存在时,可以通过扫描电子显微镜或DualBeam工具对材料再结晶、熔化、变形或反应的行为进行原位研究。

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原位实验

需要通过电子显微镜直接实时观察微观结构变化,以便了解在加热、冷却和润湿过程中的动态过程(如再结晶、晶粒生长和相变)的基本原理。

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多尺度分析

必须在更高分辨率下分析新材料,同时保留较大的样品背景。多尺度分析允许多种成像工具和模态(如X射线microCT、DualBeam、激光PFIB、SEM和TEM)关联。

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SEM 计量

扫描电子显微镜可以纳米尺度提供准确可靠的计量数据。自动化的超高分辨率 SEM 计加快了内存、逻辑和数据存储应用的利润产出时间和上市时间。

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半导体扫描电子显微镜分析和成像

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