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尽管扫描电镜 (SEM) 技术已经发展了五十多年,但对用户而言,其使用体验仍不够友好。比如将成像与成分分析割裂为两个单独的步骤,需要不断地在高低倍数间切换来完成寻找样品和成像,需要额外的设备和步骤来给样品镀膜以防止荷电现象等等。Thermo Scientific™新一代Axia ChemiSEM™扫描电镜专为改善使用体验,让工作流程更加流畅而设计:集成式能谱仪(EDS)可在成像同时提供高质量的彩色成分定性定量信息;全彩导航相机让您寻找样品更加便捷;无需镀膜,荷电样品即可在低真空模式下实现高质量成像;更多自动化功能让您的扫描电镜表征工作成为一种更加简单、高效、流畅、愉悦的体验。

Axia ChemiSEM主要特点

真正的实时定量元素分析

Axia ChemiSEM与传统的扫描电镜不同,它的EDS集成在仪器上,并在电镜工作时始终在后台收集成分数据。它使用专利的算法同时处理BSE(背散射电子)和EDS信号,从而可以实时显示样品的形态和定量元素结果。

荷电样品高质量成像

面对荷电样品,常规的做法是镀膜。但这需要额外的设备和操作,且微观形貌可能被破坏。Axia无需安装额外的附件即可实现低真空成像,且分辨率与高真空条件下相同。

标配红外CCD和全彩导航相机

当表征完一个样品,切换到下一个样品时,您需要对样品仓里面的情况了如指掌,这样就可以轻松找到下一个样品的位置,也可以保障电镜极靴的安全。Axia让这些成为标准配置,您无需再额外购买。

一键式体验,更好的自动化功能

对焦、消像散、亮度对比度等都是电镜表征工作最常规但耗时的工作。Axia让这些操作可以一键完成,无论高倍还是低倍。此外,您也无需经常做电子束合轴,因为在Axia上这是自动完成的。

多种应用软件

Axia ChemiSEM兼容多种自动化扩展应用,如标配的Thermo Scientific Maps™ 软件,可实现无人值守的自动拍图和大尺寸图像拼接;Thermo Scientific AutoScript™ 软件配合开放的API接口和丰富的现成脚本库,让您轻松成为电镜达人。

更少动手,更多安全

Axia配备电动伸缩的BSE探头,以及预对中的灯丝,您无需手动完成这些设备或耗材的安装,这使得由于不小心导致的仪器损坏几率降到最低,最高程度保证仪器的安全。


Axia ChemiSEM性能参数

产品表格规范样式表

 

标配
  • 电动伸缩式背散射探测器
  • TrueSight EDS 探测器
  • Nav-Cam —样品台全彩光学导航
  • 多功能控制面板
  • 红外CCD相机
  • Maps自动连拍及大面积拼接软件
分辨率
  • 30 kV 时 3.0 nm (SE)
  • 30 kV 时 3.0 nm (SE)(低真空)
  • 3 kV 时 8.0 nm (SE)
  • 3 kV 时 7.0 nm(BD 模式* + BSE)
仓室
  • 内宽:280 mm
  • 接口:多个附件接口,可加装EBSD 和 EDS 等多种附件。
载物台
  • XY:120x120 mm
  • 倾斜:-15 到 +90 度
  • 旋转:n x 360°
  • 在 ZTR 轴已卸下时:
    • 最大样品高度:128 mm
    • 最大样品重量:10 kg
可选配置
  • 大面积TrueSight EDS 探测器
  • Quasor-II EBSD
  • ChemiSEM 高级功能,可实现漂移矫正及谱峰剥离
  • ChemiView 用于能谱离线数据处理
  • 电子束减速模式
  • CleanHeater 加热台 (最高1,100°C)
  • 阴极荧光探测器
  • AutoScript 4 Software—基于Python的应用程序编程界面
  • Thermo Scientific TopoMaps 软件实现图像着色及分析,以及3D表面重构
Style Sheet for Komodo Tabs

Axia ChemiSEM相关资源

观看网络讲座:满足我们最新的 SEM 需求

参加本次网络讲座将:

  • 了解通过现场定量元素成像提高可获取性和生产力的零点击式元素分析。
  • 体验大腔室的前瞻性灵活性,可支撑重达10 kg的样品以及足够容纳多个附件的端口。
  • 了解如何通过快速泵送、自动对齐和简单的界面来节省时间。

观看网络讲座


 

下载电子书《工业中的 SEM 和 EDS 分析》(SEM and EDS Analysis in Industry)了解更多有关以下内容的信息:

  • 联合应用 SEM 和 EDS 分析如何支持工业应用中的深度材料表征
  • 我们独特的 Thermo Scientific ChemiSEM 技术如何将这两种技术集成到一个快速、易于使用的软件包中,使新手和专家都可以访问并且有效利用

下载

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  • 了解如何通过快速泵送、自动对齐和简单的界面来节省时间。

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  • 联合应用 SEM 和 EDS 分析如何支持工业应用中的深度材料表征
  • 我们独特的 Thermo Scientific ChemiSEM 技术如何将这两种技术集成到一个快速、易于使用的软件包中,使新手和专家都可以访问并且有效利用

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Axia ChemiSEM相关应用

采用电子显微镜进行过程控制

采用电镜进行过程控制

现代工业需求高通量、质量卓越、通过稳健的工艺控制维持平衡。SEM扫描电镜TEM透射电镜工具结合专用的自动化软件,为过程监控和改进提供了快速、多尺度的信息。

使用电子显微镜进行质量控制和故障分析

质量控制和故障分析

质量控制和保证对于现代工业至关重要。我们提供一系列用于缺陷多尺度和多模式分析的 EM电子显微镜和光谱工具,使您可以为过程控制和改进做出可靠、明智的决策。

使用电镜进行基础材料研究

基础材料研究

越来越小的规模研究新型材料,以最大限度地控制其物理和化学特性。电子显微镜为研究人员提供了对微米到纳米级各种材料特性的重要见解。


Axia ChemiSEM相关技术

ColorSEM

通过实时采集SEM和EDS信息以及实时定量功能,ColorSEM技术将SEM图像转化为彩色图像。现在任何用户都可以实时获取元素信息,得到比以往任何时候更多的完整信息。

了解更多 ›

对热样品进行成像

在现实条件中,研究材料通常需要在高温下工作。在热量存在时,可以通过扫描电子显微镜或DualBeam工具对材料再结晶、熔化、变形或反应的行为进行原位研究。

了解更多 ›

颗粒分析

颗粒分析在纳米材料研究和质量控制中发挥着重要作用。纳米级分辨率和卓越的电子显微镜成像可以与专用软件相结合,以快速表征粉末和微粒。

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阴极发光

阴极发光 (CL) 描述材料在电子束的激发下产生的发光现象。该信号由专业的 CL 检测器捕获,包含样品成分、晶体缺陷或光子特性的信息。

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ColorSEM

通过实时采集SEM和EDS信息以及实时定量功能,ColorSEM技术将SEM图像转化为彩色图像。现在任何用户都可以实时获取元素信息,得到比以往任何时候更多的完整信息。

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对热样品进行成像

在现实条件中,研究材料通常需要在高温下工作。在热量存在时,可以通过扫描电子显微镜或DualBeam工具对材料再结晶、熔化、变形或反应的行为进行原位研究。

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颗粒分析

颗粒分析在纳米材料研究和质量控制中发挥着重要作用。纳米级分辨率和卓越的电子显微镜成像可以与专用软件相结合,以快速表征粉末和微粒。

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阴极发光

阴极发光 (CL) 描述材料在电子束的激发下产生的发光现象。该信号由专业的 CL 检测器捕获,包含样品成分、晶体缺陷或光子特性的信息。

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