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K-Alpha X 射线光电子能谱仪

Thermo Scientific K-Alpha X 射线光电子能谱仪 (XPS) 系统为表面分析带来了一种新方法。K-Alpha XPS 系统专注于使用简化的工作流程提供高质量的结果，使 XPS 操作简单直观，而不会牺牲性能或功能。  

最先进的性能、更低的价格、更容易的使用性和较大的样品测试量使 K-Alpha XPS 系统成为多用户环境的理想选择。K-Alpha XPS 系统使世界各地的研究人员能够进行表面分析。 

网络讲座：Thermo Scientific K-Alpha XPS 系统

 

K-Alpha X 射线光电子能谱仪特点

 

K-Alpha XPS系统拥有高性能 X 射线源

高性能   X 射线源

X 射线单色器允许在50 µm 至 400 µm 的分析区域内以 5 µm 的步长进行选择选择 ，以寻求所需的信号最大化。

K-Alpha XPS系统拥有优异的电子光学系统

优异的电子光学系统

高效电子透镜、半球形分析仪和检测器可实现卓越的检测和快速数据采集。 

K-Alpha XPS系统提供的样品视图

样品视图

使用 K-Alpha XPS 系统的专利光学观察系统和 XPS SnapMap 聚焦样品，帮助您快速确定分析测试区域。

使用K-Alpha XPS系统进行绝缘样品分析

绝缘样品分析

获得专利的双束电子源将低能量离子束与低能量的电子（小于 1 eV）耦合，防止分析过程中的样品带电，从而在大多数情况下消除了荷电效应。

借助K-Alpha XPS系统进行样品的深度剖析

深度剖析

使用 EX06 离子源进行更深层表面的分析。自动源优化和气体处理功能确保卓越的性能和实验重现性。

K-Alpha XPS系统的实验可进行数码控制

数码控制

由 Avantage 数据系统指导的直观操作使 K-Alpha XPS 系统成为多用户、测试中心和注重高效操作和高测试量的 XPS 专家的理想选择。

K-Alpha XPS系统拥有多种特殊的可选样品台

可选样品台

提供可选的各种特殊样品台，用于变角 XPS、样品加偏压测试或从手套箱惰性转移样品。

性能数据

产品表格规范样式表
分析仪类型 
  • 180°双聚焦半球分析仪， 128通道探测器
X 射线源类型
  • 单色化、微聚焦、低功率的 Al K-Alpha X 射线源 
X 射线光斑尺寸
  • 50-400 µm（以 5µm 为单位可调）
深度剖析
  • EX06 离子源
样品最大面积
  • 60x60 mm
样品最大厚度
  • 20 mm
真空系统
  • 两个涡轮分子泵，配有自动钛升华泵和机械泵 
可选配件
  • ADXPS 样品 支架， 工作 功能 样品 支架， 手套 箱
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表面分析学习中心

材料表面或层间界面的化学作用决定了材料的行为。我们的表面分析参考资料和资源可以帮助您设计所需的特性或在材料性能不如预期时加深对材料的了解。

XPS 学习中心

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元素表

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