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基线平坦度 | ±0.0010 A,200 至 800 nm,1.0 nm SBW,平滑化 |
认证/合规 | ISO 9001:2008 |
连接 | USB 或 RS-232 |
深度(英制) | 24.3 in. |
深度(公制) | 62.2 mm |
描述 | 美国、加拿大、日本 Evolution 201 平板电脑控制模块 |
检测器类型 | 双硅光电二极管 |
显示器 | 无 |
尺寸(长 x 宽 x 高) | 62.2 x 48.6 x 27.9 cm (24 x 19 x 11 in.) |
产品线 | Evolution 201 |
光谱带宽 | 1.0 nm |
类型 | 分光光度计及平板电脑控制模块 - 美国、加拿大和日本 |
Wavelength Range | 190 nm 到 1100 nm |
漂移 | <0.0005 A/h,500 nm,1.0 nm SBW,1 h 预热 |
电气要求 | 100/240 V,自动选择 50/60 Hz,最大 150 W |
维持 | 比色皿高达 100 mm |
键盘 | 密封膜 |
灯寿命 | 7 年(典型值) |
噪声 | 0 A:<0.00015 A; 1 A:<0.00025 A; 2 A:<0.00080A; 260 nm,1.0 nm SBW,RMS |
光学设计 | 双光束(带有样品和参考比色皿位置);Czerny-Turner 单色器 |
药典合规性测试 | 分辨率(甲苯己烷溶液):≥1.8 A 光度准确度 (60 mg/L K2Cr2O7):±0.010A 杂散光:≤1% T @ 198nm:KCI;≤0.05%AT(在 220 nm 处):Nal,Kl 波长准确度:±0.5 nm(541.9、546.1 nm Hg 发射线),±0.8 nm(全范围) 波长重复精度:≤0.05 nm,546.1nm Hg 发射线重复扫描 |
光度显示 | -0.3 至 4.0A |
光度范围 | >3.5 A |
透射比重复性 | ±0.0002 A |
处理器 | INSIGHT 2 软件与 Windows™ 7 和 Windows 8.1 专业版兼容。 |
扫描纵坐标模式 | Absorbance,% Transmittance,% Reflectance,Kubelka-Munk,log (1/R). log (Abs) Abs*,Intensity |
扫描速度 | <1 至 6000 nm/min。(变量) |
质保期 | 每 3 年 |
瓦数 | 最大 150 W |
波长精度 | ±0.5 nm(541.9、546.1 nm 汞线),±0.8 nm(190 至 1100 nm 全范围) |
波长数据间隔 | 10、5、2、1.0、0.5、0.2、0.1 nm |
波长重复性 | ≤0.05 nm(546.1 nm 汞线,10次测量的 SD) |
重量(公制) | 14.4 kg |
Unit Size | Each |
基线平坦度 | ±0.0010 A,200 至 800 nm,1.0 nm SBW,平滑化 |
认证/合规 | ISO 9001:2008 |
连接 | USB 或 RS-232 |
描述 | Evolution 201 紫外-可见光分光光度计,计算机控制,随附欧洲/美国/英国规格电源电缆 |
检测器类型 | 双硅光电二极管 |
显示器 | 无 |
尺寸(长 x 宽 x 高) | 62.2 x 48.6 x 27.9 cm (24 x 19 x 11 in.) |
产品线 | Evolution 201 |
光谱带宽 | 1.0 nm |
类型 | 计算机控制紫外-可见分光光度计 |
Wavelength Range | 190 nm 到 1100 nm |
漂移 | <0.0005 A/h,500 nm,1.0 nm SBW,1 h 预热 |
电气要求 | 100/240 V,自动选择 50/60 Hz,最大 150 W |
维持 | 比色皿高达 100 mm |
包括 | 欧盟/美国/英国电源线 |
灯寿命 | 7 年(典型值) |
噪声 | 0 A:<0.00015A; 1A:<0.00025A; 2A:<0.00080A; 260 nm,1.0 nm SBW,RMS |
光学设计 | 双光束(带有样品和参考比色皿位置);Czerny-Turner 单色器 |
药典合规性测试 | 光度准确度 (60mg/L K2Cr2O7):±0.010 A 杂散光:≤1%T @ 198 nm:KCI;≤0.05%AT @ 220 nm:Nal,Kl 波长精度:541.9、546.1nm Hg 发射线 ±.5 nm,全范围 ±0.8 nm 波长重复性:≤0.05 nm,546.1 nm Hg 发射线重复扫描 |
光度显示 | -0.3 至 4.0A |
光度范围 | >3.5 A |
透射比重复性 | ±0.0002 A |
处理器 | Microsoft Windows 7、Windows 8 |
扫描纵坐标模式 | Absorbance,% Transmittance,% Reflectance,Kubelka-Munk,log (1/R). log (Abs) Abs*,Intensity |
扫描速度 | <1 至 6000 nm/min。(变量) |
质保期 | 每 3 年 |
瓦数 | 最大 150 W |
波长精度 | ±0.5 nm(541.9、546.1 nm 汞线),±0.8 nm(190 至 1100 nm 全范围) |
波长数据间隔 | 10、5、2、1.0、0.5、0.2、0.1 nm |
波长重复性 | ≤0.05 nm(546.1 nm 汞线,10次测量的 SD) |
重量(英制) | 32 lb. |
重量(公制) | 14.4 kg |
Unit Size | Each |
基线平坦度 | ±0.0010 A,200 至 800 nm,1.0 nm SBW,平滑化 |
认证/合规 | ISO 9001:2008 |
连接 | USB 或 RS-232 |
深度(英制) | 24.3 in. |
深度(公制) | 62.2 mm |
描述 | Evolution 201 分光光度计及平板电脑控制模块 - 国际版 |
检测器类型 | 双硅光电二极管 |
显示器 | 无 |
尺寸(长 x 宽 x 高) | 62.2 x 48.6 x 27.9 cm (24 x 19 x 11 in.) |
产品线 | Evolution 201 |
光谱带宽 | 1.0 nm |
类型 | 分光光度计及平板电脑控制模块 - INTL |
Wavelength Range | 190 nm 到 1100 nm |
漂移 | <0.0005 A/h,500 nm,1.0 nm SBW,1 h 预热 |
电气要求 | 100/240 V,自动选择 50/60 Hz,最大 150 W |
维持 | 比色皿高达 100 mm |
键盘 | 密封膜 |
灯寿命 | 7 年(典型值) |
噪声 | 0 A:<0.00015 A; 1 A:<0.00025 A; 2 A:<0.00080A; 260nm,1.0nm SBW,RMS |
光学设计 | 双光束(带有样品和参考比色皿位置);Czerny-Turner 单色器 |
药典合规性测试 | 分辨率(甲苯己烷溶液):≥1.8 A 光度准确度 (60 mg/L K2Cr2O7):±0.010A 杂散光:≤1% T @ 198nm:KCI;≤0.05%AT(在 220 nm 处):Nal,Kl 波长准确度:±0.5 nm(541.9、546.1 nm Hg 发射线),±0.8 nm(全范围) 波长重复精度:≤0.05 nm,546.1nm Hg 发射线重复扫描 |
光度精度 | 1 A:±0.006A,2 A:±0.010 A,在 440 nm 处测量 |
光度显示 | -0.3 至 4.0A |
光度范围 | >3.5 A |
透射比重复性 | ±0.0002 A |
处理器 | INSIGHT 2 软件与 Windows™ 7 和 Windows 8.1 专业版兼容。 |
扫描纵坐标模式 | Absorbance,% Transmittance,% Reflectance,Kubelka-Munk,log (1/R). log (Abs) Abs*,Intensity |
扫描速度 | <1 至 6000 nm/min。(变量) |
质保期 | 每 3 年 |
瓦数 | 最大 150 W |
波长精度 | ±0.5 nm(541.9、546.1 nm 汞线),±0.8 nm(190 至 1100 nm 全范围) |
波长数据间隔 | 10、5、2、1.0、0.5、0.2、0.1 nm |
波长重复性 | ≤0.05 nm(546.1 nm 汞线,10次测量的 SD) |
重量(公制) | 14.4 kg |
Unit Size | Each |
基线平坦度 | ±0.0010 A,200 至 800 nm,1.0 nm SBW,平滑化 |
描述 | 美国、加拿大、日本 Evolution 220 平板电脑控制模块 |
检测器类型 | 双硅光电二极管 |
显示器 | 无 |
尺寸(长 x 宽 x 高) | 62.2 x 48.6 x 27.9 cm (24 x 19 x 11 in.) |
产品线 | Evolution 220 |
光谱带宽 | 可变:1.0 nm,2.0 nm |
类型 | 分光光度计及平板电脑控制模块 - 美国、加拿大和日本 |
Wavelength Range | 190 nm 到 1100 nm |
漂移 | <0.0005 A/h,500 nm,1.0 nm SBW,1 h 预热 |
电气要求 | 100/240 V,自动选择 50/60 Hz,最大 150 W |
键盘 | 密封膜 |
灯寿命 | 7 年(典型值) |
噪声 | 0 A:<0.00015 A; 1 A:<0.00025 A; 2 A:<0.00080 A; 260 nm,1 nm SBW,RMS |
光学设计 | 优化的 AFBG 微量池、优化的 AFBG 光纤、优化的 AFBG 材料 |
药典合规性测试 | (保证性能规格) 分辨率(甲苯-正己烷):≥1.8 A 光度准确度 (60 mg/L K2Cr2O7):±0.010A 杂散光:≤1% T @ 198nm:KCI;≤0.05%AT(在 220 nm 处):Nal,Kl 波长准确度:±0.5 nm(541.9、546.1 nm Hg 发射线),±0.8 nm(全范围) 波长重复精度:≤0.05 nm,546.1nm Hg 发射线重复扫描 |
光度精度 | 1 A:±0.006A,2 A:±0.010 A,在 440 nm 处测量 |
光度显示 | -0.3 至 4.0A |
光度范围 | >3.5 A |
透射比重复性 | ±0.0002 A |
处理器 | 嵌入 Microsoft Windows™ XP。Insight 2 软件也与 Windows 7 和 Windows 8.1 专业版兼容。 |
扫描纵坐标模式 | Absorbance,% Transmittance,% Reflectance,Kubelka-Munk,log (1/R),log (Abs),Abs*Factor,Intensity |
扫描速度 | <1 至 6000 nm/min。(变量) |
质保期 | 每 3 年 |
波长精度 | ±0.5 nm(541.9、546.1 nm 汞线),±0.8 nm(190 至 1100 nm 全范围) |
波长数据间隔 | 10、5、2、1.0、0.5、0.2、0.1 nm |
波长重复性 | ≤0.05 nm(546.11 nm 汞线,10次测量的 SD) |
重量(公制) | 14.4 kg |
Unit Size | Each |
基线平坦度 | ±0.0010 A,200 至 800 nm,1.0 nm SBW,平滑化 |
认证/合规 | 分析证书 (COA)、符合性证书 (COC) |
描述 | Evolution 220 分光光度计及平板电脑控制模块 - 国际版 |
检测器类型 | 双硅光电二极管 |
显示器 | 无 |
尺寸(长 x 宽 x 高) | 62.2 x 48.6 x 27.9 cm (24 x 19 x 11 in.) |
产品线 | Evolution 220 |
光谱带宽 | 可变:1.0 nm,2.0 nm |
类型 | 分光光度计及平板电脑控制模块 - INTL |
Wavelength Range | 190 nm 到 1100 nm |
漂移 | <0.0005 A/h,500 nm,1.0 nm SBW,1 h 预热 |
电气要求 | 100/240 V,自动选择 50/60 Hz,最大 150 W |
适用于(应用) | 光谱分析、元素分析和同位素分析 |
键盘 | 密封膜 |
灯寿命 | 7 年(典型值) |
噪声 | 0 A:<0.00015A; 1A:<0.00025 A; 2 A:<0.00080A; 260nm,1nm SBW,RMS |
光学设计 | 优化的 AFBG 微量池、优化的 AFBG 光纤、优化的 AFBG 材料 |
药典合规性测试 | (保证性能规格) 分辨率(甲苯-正己烷):≥1.8 A 光度准确度 (60 mg/L K2Cr2O7):±0.010A 杂散光:≤1% T @ 198nm:KCI;≤0.05%AT(在 220 nm 处):Nal,Kl 波长准确度:±0.5 nm(541.9、546.1 nm Hg 发射线),±0.8 nm(全范围) 波长重复精度:≤0.05 nm,546.1nm Hg 发射线重复扫描 |
光度精度 | 1 A:±0.006A,2 A:±0.010 A,在 440 nm 处测量 |
光度显示 | -0.3 至 4.0A |
光度范围 | >3.5 A |
透射比重复性 | ±0.0002 A |
处理器 | 嵌入 Microsoft Windows™ XP。Insight 2 软件也与 Windows 7 和 Windows 8.1 专业版兼容。 |
扫描纵坐标模式 | Absorbance,% Transmittance,% Reflectance,Kubelka-Munk,log (1/R),log (Abs),Abs*Factor,Intensity |
扫描速度 | <1 至 6000 nm/min。(变量) |
质保期 | 每 3 年 |
波长精度 | ±0.5 nm(541.9、546.1 nm 汞线),±0.8 nm(190 至 1100 nm 全范围) |
波长数据间隔 | 10、5、2、1.0、0.5、0.2、0.1 nm |
波长重复性 | ≤0.05 nm(546.11 nm 汞线,10次测量的 SD) |
重量(公制) | 14.4 kg |
Unit Size | Each |
货号 | 规格 | 单位规格 | 产品线 | 类型 | 价格(CNY) | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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912A0883 | Each | Evolution 201 | 分光光度计及平板电脑控制模块 - 美国、加拿大和日本 | 联系我们 › | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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840-210800 | Each | Evolution 201 | 计算机控制紫外-可见分光光度计 | 联系我们 › | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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912A0890 | Each | Evolution 201 | 分光光度计及平板电脑控制模块 - INTL | 联系我们 › | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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912A0884 | Each | Evolution 220 | 分光光度计及平板电脑控制模块 - 美国、加拿大和日本 | 联系我们 › | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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912A0889 | Each | Evolution 220 | 分光光度计及平板电脑控制模块 - INTL | 联系我们 › | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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