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MEP-300 探头采用先进的硅漂移检测器 (SDD),无需低温。与上一代 MEP 探头相比,检测器分辨率和计数率有所提高。除出色的 X 射线检测能力外,SDD 还具有卓越的稳定性和抗冲击和振动性能,使其非常适合用于在线浆液分析等工业应用。
主要设计特点和进步:
职业健康 & 安全
硅漂移检测器 (SDD)
维护和操作