适用于 Neoma™ MC-ICP-MS 的 XHR™ 选件

利用 Thermo Scientific™ Neoma™ MC-ICP-MS 的 XHR™ 选件来解决具有挑战性的干扰。

氢化物是有效分离干扰物质时最具挑战性的干扰，这些干扰会影响硅、镁、氯和钾等元素的高精度同位素比测量。XHR 选件经过优化，可解决氢化物和其他化合物带来的干扰。

结合 Neoma 多接收器电感耦合等离子体质谱仪（MC-ICP-MS）的峰位和质量偏倚稳定性，可以准确、精确并以较高的分辨率执行同位素比测量。

• 消除氢化物对 ²⁵Mg、^29MSi、³⁷Cl 和 ⁴¹K 同位素的干扰。
• 提高超高精度同位素比测量的准确度。

本选件可实现同位素比测量的无干扰分辨率，提高读数准确度。由于 XHR 选件的分辨率有所增强，因此氢化物产生的干扰得以大大降低。

将 XHR 选件与 Neoma MC-ICP-MS 搭配，您仍可获享这款质谱分析系统曾带来的所有优势，包括其高分辨率双聚焦分析仪、完全灵活的检测系统以及精细的软件控制。