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| 深度剖析 | MAGCIS 双模式离子源 |
| 描述 | 适用于 XPS 仪器的 MAGCIS 双束离子源 |
| 适用于（设备） | K-Alpha X-ray Photoelectron Spectrometer; ESCALAB 250Xi XPS Microprobe; Theta Probe Angle-Resolved XPS system |
| Unit Size | Each |
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| 货号 | 规格 | 单位规格 | 描述 | 价格（CNY) | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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| IQLAADGAAFFAPFMBFP | Each | 适用于 XPS 仪器的 MAGCIS 双束离子源 | 申请报价 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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X 射线光电子能谱仪（XPS）使用离子源来蚀刻多层材料的薄层，从而对每一层进行表征。该技术适用于许多有用的应用，例如研究触摸屏的完整结构、测量生物医疗器械的等离子体沉积涂层或者了解 OLED 和太阳能电池。
多年以来，XPS 都使用单原子氩离子溅射技术来研究层状材料整个深度的化学性质，或者用于清洁无机样品表面。但是，这种离子源会损坏较软材料的表面。最近已研制成功气体团簇离子源，可克服这些局限，从而可对以前无法进行 XPS 深度剖析的材料进行分析。
适用于 XPS 仪器的 MAGCIS 双束离子源提供单原子和气体团簇模式，让您能够进行各类样品的深度剖析分析。MAGCIS 离子源由 Thermo Scientific™ Avantage™ 软件（用于所有 Thermo Scientific XPS 系统的表面分析软件）完全控制。 操作员完全看不见气体处理和源控制；操作员只需要选择想要使用的模式：“单原子束”或具有特定能量的“团簇”离子束，然后运行实验即可。
应用
- 多层聚合物材料的深度剖析
- 氧化物和玻璃的表面清洁
- 混合材料的深度剖析（聚合物/无机物）
- 金属和氧化物的深度剖析
- 了解聚合物电子结构
- 基于石墨烯的设备的分析
- 生物医学涂层的均匀度
- 比较织物处理
- 有机和无机太阳能电池
- 制备适用于角分辨 XPS 的高介电常数材料
图表
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引用和文献
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