WDS MagnaRay 光谱仪与 Thermo Scientific™ Pathfinder™ X 射线微量分析软件无缝集成，可自动确定分析元素和进行所有的 WDS 操作，同时 EDS 检测器仍可采集数据。光谱仪设置和操作详细信息通过内置专家系统自动处理。无论是需要峰重叠、痕量元素确认，还是需要精确的定量分析，WDS MagnaRay 光谱仪都可以简单快速地进行分析。

WDS MagnaRay 光谱仪特点：

如 EDS 般易用而不失 WDS 的精度与置信度

• 卓越的微量分析结果
• 高分辨率
• 对痕量元素灵敏
• 全光谱范围的连续光谱覆盖范围
• 值得信赖的灵敏度

速度与精度

• 衍射晶体和计数器的直驱式机制可使 MagnaRay 光谱仪在快至 0.25 秒的时间内在元素之间切换 — 即仅在老式 WDS 光谱仪完成第一种元素分析的时间内，MagnaRay 即可完成多种元素快速分析
• 与直驱式系统互连的编码器可确保角精度优于 0.001 度 — 确保 WDS 峰始终在正确的位置

SEM 和低电压应用
适用于高灵敏度、光元素检测、重叠峰、高峰背比或高空间分辨率至关重要的应用。

• 可伸入到 SEM 腔室中的 X 射线光学元件，与固态 EDS 检测器相似
• 可在低束电流和低电压操作条件下实现高水平应用性能

灵敏度

• X 射线路径设计结合聚焦光学元件，将样品发射的发散 X 射线经聚焦后转换为平行光束，然后经衍射晶体进行布拉格衍射
• 采用专有混合 X 射线聚焦光学元件（整合了毛细管和掠入射光学元件），在低能量和高能量下具有相同计数率
• 混合光学聚焦探头配合使用一个单独的、可在低能量下使用且密封的氙气正比计数器—精简了设计和操作，相比于老式流气正比计数器有效提高了所有元素的通量

纳米分析
适用于相互影响且体积较小的样品（如纳米颗粒或薄膜）

• 利用峰背比和卓越的 X 射线采集速率进行痕量元素分析
• 根据样品和 SEM 进行操作—而不是光谱仪
• 可在现代纳米材料分析所需的严苛条件下运行—从而实现基于 SEM 的纳米分析
• 解决传统 WDS 在高能力、高电流条件下经常遇到的样品荷电和样品损坏问题
• 结合 WDS 的极佳特点，同时无需高加速电压或高束流的不利条件

定性分析

• 在出现显著峰重叠时帮助 EDS 完成样品定性分析
• 当 EDS 谱中重叠十分严重时，可在 EDS 采集期间自动确定是否存在 Mo、S、Pb 或 Si、Ta、W 等元素

定量分析

• 使用内置专家系统消除对样品位置、束流和光谱仪设置的担忧
• 自动对齐光谱仪
• 选择较合适的元素，并对齐样品和光谱仪以进行极佳操作
• 使用束流测量提供精确定量结果

X 射线图谱和线扫描

• 生成低浓度物质的高对比度 X 射线图谱和线扫描
• 轻松获得 WDS 图谱和线扫描