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Thermo Scientific™ Nexsa G2 X 射线光电子能谱仪(XPS)系统能提供全自动、高通量的表面分析,提供数据以推进研究和开发,或解决生产问题。XPS 与离子散射光谱(ISS)、UV 光电子能谱(UPS)、反射电子能量损失谱(REELS)以及拉曼光谱集成,让您能够开展真正意义上的相关性分析。该系统现包含样品加热和样品加偏压功能选项,拓宽可进行的实验范围。Nexsa G2 表面分析系统发掘了在材料科学、微电子、纳米技术开发和许多其他应用领域取得新进展的潜力。
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