仅当故障设备在特定操作参数集（通常包括电压、时钟速度和温度）下运行时才会发现参数缺陷。实施强大而灵活的检测技术（与一组先进的分析方法相结合），允许引入新的动态应用，如逻辑状态映射 (LoSM) 和动态激光刺激 (DLS)。Meridian 有助于开发极先进的动态应用和技术，同时保持隔离静态故障的能力。

配置 & 特点

Meridian 平台上的光子发射显微镜检查 (PEM) 基于一种优化组合，即高灵敏度 InGaAs 或 DBX 相机和高数值孔径 (NA) 像差校正光学元件。Meridian-IV 系统提供高分辨率硅通孔成像，用于背侧设备分析。低噪声和高灵敏度，获得的发射数据具有卓越信噪比，从而可进行快速、晶体管水平故障检测。DBX 配置提供行业领先的结果，即使是在低于 0.5 伏的设备上。

激光扫描显微镜 (LSM) 选项将 Meridian 转变为高分辨率、高对比度共聚焦激光扫描系统，针对静态和动态故障分析进行了优化。OBIRCH、OBIC 和 Seebeck 效应成像 (SEI) 等静态激光刺激 (SLS) 应用可识别短路故障和电阻故障的源头，对基于发射的技术进行了补充。

先进的 Sierra 用户环境和分析软件包包括构建高质量、高放大率图像马赛克的能力。采集单一高放大率图像，然后无缝集成，以在大视野内形成设备的高分辨率图像。