Thermo Scientific™

用于半导体的 Meridian™ WS-DP 系统

货号: MERIDIANWSDP
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用于半导体的 Meridian™ WS-DP 系统

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由于产出时间对盈利能力至关重要,先进的晶圆代工厂、集成设备生产商和无晶圆厂公司需等到切割和封装后才能确定电气故障的来源,成本太高。Thermo Scientific™ Meridian™ WS-DP 系统通过使用生产测试机、测试负载板以及探针卡实现更快的失效定位。 Meridian WS-DP 可提供 Meridian 产品系列的所有诊断选项,包括:LVx、发射、LADA 和 OBIRCH。
 
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MERIDIANWSDP
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选配项

激光电压成像

激光电压成像 (LVI),可显示在 Meridian-IV 上以特定频率激活的晶体管的物理位置。

CW 激光电压探测

连续波激光电压探测 (CW-LVP) 可采集 Meridian-IV 系统上的功能波形数据。

Meridian WS-DP 系统可提供:
  • 识别系统性缺陷的能力
  • 显著增加的电气测量通量
  • 提高的缺陷定位成功率
  • 减少的物理分析时间
功能:
  • 基于先进 InGaAs 的标准发射检测
  • 基于高灵敏度扩展波长 DBX 的发射检测
  • 获得专利、经行业证实的 “点 & 单击” 固体浸没透镜 (SIL)
  • 快速晶粒间索引
  • 具有高速 ATE 接口的动态故障覆盖
  • 用于静态和动态分析的可选激光扫描显微镜 (LSM)
  • 与常见的第三方 EDA 应用兼容

图表

文件和下载

证书

    常见问题解答 (FAQ)

    引用和文献

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