用于材料科学的 Scios™ 2 DualBeam™

Scios 2 DualBeam 提供：

• 使用 Sidewinder HT 离子镜筒快速简便地制备高质量、位点特异性 透射电镜和 原子探针样品。
• 使用 NICol 电子镜筒的超高分辨率成像，在广泛的样品范围（包括磁性和非导电材料）内具有同类较佳的性能。
• 可通过各种集成在镜筒内和透镜下的集成检测器获得具有清晰、精确且无荷电的对比度的较完整样品信息。
• 使用可选的 Auto Slice View 4 (ASV4) 软件，可提供高质量、多模态亚表面和 3D 信息，精确地瞄准目标区域。
• 由于高度灵活的 110 mm 载物台和腔内 Nav-Cam，可根据个体应用需求定制精确的样品导航。
• 采用 SmartScan、DCFI 和漂移抑制等专用模式可实现无伪影成像和图形化。
• 通过灵活的 DualBeam 配置，可优化解决方案以满足特定的应用要求。

快速、便捷地制备高质量 TEM 样品

科学家和工程师不断面临新的挑战、需要对越来越复杂的样品的更小特征进行高度局部表征。Scios 2 DualBeam 的最新技术创新，结合易于使用、较全面的 AutoTEM4 软件（可选）和赛默飞世尔科技的应用专业知识，可快速简便地制备适用于广泛材料的位点特异性高分辨S/TEM 样品。为了获得高质量结果，需要使用低能量离子进行最终抛光，以尽可能减少对样品表面的损坏。Sidewinder HT 聚焦离子束 (FIB) 镜筒不仅能够在高电压下提供高分辨率成像和铣削，还具有良好的低电压性能，能够制备高质量的 TEM 片晶。