Talos F200E TEM
Talos F200E TEM
Thermo Scientific™

Talos F200E TEM

Thermo Scientific Talos F200E（扫描）透射电子显微镜提供具有极小失真的高分辨率 STEM 和 TEM 成像，其结合高通量能量散射 X 射线谱 (EDS) 功能，专为多种半导体缺陷分析和研究应用而设计。
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货号 TALOS-F200E-TEM
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Thermo Scientific Talos F200E（扫描）透射电子显微镜提供具有极小失真的高分辨率 STEM 和 TEM 成像，其结合高通量能量散射 X 射线谱 (EDS) 功能，专为多种半导体缺陷分析和研究应用而设计。
  • 高通量、多用途 TEM，具有低失真成像功能，适用于多种应用
  • 200 kV TEM 和 STEM 适用于可重复、高容量的多种半导体和微电子设备分析。
规格
描述200 kV TEM 和 STEM 显微镜
类型STEM 显微镜
分辨率≤ 0.16 nm
Unit SizeEach