Talos™ F200X G2 TEM
Talos™ F200X G2 TEM
Thermo Scientific™

Talos™ F200X G2 TEM

Thermo Scientific™ Talos™ F200X 扫描/透射电子显微镜 (S/TEM) 将出色的高分辨率 S/TEM 和 TEM 成像与行业前列的能谱 (EDS) 信号检测和通过成分绘图进行 3D 化学表征结合在一起。
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货号 TALOSF2OOX
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Thermo Scientific™ Talos™ F200X 是一款扫描透射电子显微镜 (S)TEM,其将出色的高分辨率 (S)TEM 和 TEM 成像与能量色散 X 射线光谱 (EDS) 信号检测相结合。采用构合映射的 2D/3D 化学表征由具有独特清洁度的 4 个柱内 SDD Super-X 探头执行。Talos F200X (S)TEM 可实现较快、较精确的所有维度 EDS 分析,以及用于动态显微镜的快速导航和较低的环境敏感度。

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Talos F200X (S)TEM 可在多维度下对纳米材料进行快速、精确的定量表征。由于具有旨在提高通量、精度和易用性的创新功能,Talos F200X (S)TEM 是院校、政府、半导体以及工业环境高级研究和分析的理想选择。

最近对在高分辨率下进行大面积相关性成像的需求有所增加,因为这使研究人员在获得统计学上稳定的数据的同时也能保留其观测结果的背景。Thermo Scientific™ Maps 软件(由 Thermo Scientific™ Velox 软件启用)自动采集样品的一系列图像,并将它们拼接在一起以形成一幅大尺寸最终图像。图像采集甚至可以在无人值守的情况下执行。APW(自动化颗粒工作流程)包具有本节所述的所有优点,并利用 Thermo Scientific™ Avizo2D 软件在专用处理 PC 上添加了独特的处理功能。您可以自动获取大小、面积、周长、形状、因子、接触点等纳米颗粒参数。全自动且无人照看软件包可使您全天候使用 Talos F200X (S)TEM,获得更好的统计数据并显著改善可重复性(因为不存在操作员偏倚)。

Align Genie 自动化软件减轻了新手操作员的学习负担,减少了多用户环境中的紧张气氛,并为经验丰富的操作员缩短了数据获得周期。

Talos F200X G2 透射电子显微镜的特点:

  • 可搭配众多高分辨率场发射枪 (FEG)
    • 200 kV 下的枪亮度:1.8×109 A /cm2 srad (X-FEG);2.4×109 A /cm2 srad (X-CFEG)
  • 直观的软件
  • 更短的化学成分获得周期
  • 更好的图像数据
  • 更多的空间
  • 高质量 (S)TEM 图像和准确的 EDS
    • Super-X EDS 系统:4 SDD 对称设计、无窗、遮光板保护
  • 高度可重复的数据采集
规格
描述Talos F200X G2 透射电子显微镜
分辨率HRTEM 线分辨率:≤0.10 nm
STEM 分辨率:≤0.16 nm (X-FEG);使用 100 pA (X-CFEG) 时为 ≤0.14 nm
电子能量损失谱 (EELS) 能量分辨率:≤0.8 eV (X-FEG);≤0.3 eV (X-CFEG)
 
Unit SizeEach