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使用集成设计的 Thermo Scientific™ Velox™ 用户界面可全面接入显微镜光学器件和探测器,以提供出色的实验控制,从而实现较高的重现性、产出以及对材料科学中的定量 S/TEM 研究的极佳支持。 Thermo Scientific Velox 软件包括一个独特的软件包,适用于 XEDS 应用,以及 SuperX 和 DualX 探测器系统。强劲的能谱采集结合了多种优化技术,适用于透射电子显微镜。实时动态漂移校正、递归映射、独立通道读出、带样品杆补偿的独特的吸收校正:这些技术可确保以较高产量采集质量较佳的 EDS 谱图。
 
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Velox 是一款基于工作流程的用户界面,适用于 S/TEM 成像和能谱 (EDS) 应用。它为 TEM 应用中的 Ceta 系列相机提供软件界面,同时能在 STEM 成像和分析中处理明场暗场探头以及 Dual-X/Super-X能谱采集到的信号。该软件不仅可以显示实时信号,还为测量、图像过滤、傅里叶变换或能谱定量等图像处理提供分析功能。多模块架构设计可以同时独立采集多个能谱信号和 STEM 信号。自动处理数据存储,可提高效率。该系统包括较完整的元数据处理,可实现结果重现性、较佳的离线定量分析和模拟,从而获得出色的实验结果。

  • 通过先进的漂移补偿方法(例如快速递归映射中的 DCFI 和交叉关联),确保高质量的成像和组分映射。
  • 通过交互式检测器布局界面和所有重要元数据的自动存储,实现较高的重现性、较佳的实验控制和多检测器工具上的记录
  • 通过时间分辨 XEDS 和“脱壳”功能实现动态组分映射,适用于递归映射,可按帧删除,以尽量减少电子束敏感材料组分分析上的伪影
  • 独特、稳健的 XEDS 定量软件,可补偿任何倾斜位置处的样品杆阴影,可提供 4 个独立探头进行计数
  • 灵活的 STEM 和 TEM 视频记录,用于动态研究
  • 使用 DPC 成像实现电场和磁场实时可视化
  • 通过独特的 iDPC 模式,实现轻元素和重元素的较高对比度原子成像
  • 轻材料的低剂量高对比度成像,可实现处于自然状态的电子束敏感材料成像

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