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c7c8 - 主要特点/性能数据/相关资源/应用/技术/文档/联系人

Phenom ParticleMetric particle analysis software

Integrated Thermo Scientific Phenom ParticleMetric Software allows you to gather morphology and particle size data for numerous sub-micron particle applications with any Phenom Desktop SEM. The fully automated measurements of ParticleMetric Software allow a level of visual exploration beyond optical microscopy that can lead to new discoveries and innovations in powder design, development, and quality control. 

Phenom ParticleMetric Software provides insightful data about your particles quickly and easily; these insights can help you improve the quality of your products and expedite your research.

Key features of ParticleMetric particle analysis software

Online and offline analysis

Integrated within Thermo Scientific Phenom ProSuite Software for online and offline analysis.

Correlating features

Correlate particle features such as diameter, circularity, aspect ratio and convexity.

Advanced detection algorithm

Features an advanced detection algorithm with default settings for non-expert user and advanced settings for experts.

Automated image mapping

Create image datasets with complimentary automated image mapping software.

Specifications

产品表格规范样式表

Particle size range

  • 100 nm - 0.1 mm

Particle detection

  • 8/16 bit image processing

Speed

  • More than 1,000 particles per minute

Measured properties

  • Size, shape, count

Particle parameters      

  • Area, circle equivalent diameter, surface area, circumscribed circle diameter, volume by area, circumference, aspect ratio, circularity, elongation, grayscale, major axis, minor axis, convex hull, gravity center (x,y), pixel count, and convexity.

Digital image detection                  

  • Plot graphs in linear, log or double log scale, by number or by volume
  • Scatter plots of any given parameter
  • SEM image of individual particle

Output

  • Report in docx format, TIFF image format, CSV file, Project file (.PAME) for offline analysis

Part of ProSuite Software

  • Network storage enabled
  • Phenom integrated system
Style Sheet for Komodo Tabs

Resources

Images
Case studies

Case studies
 

Monitoring Pharmaceutical Products with Desktop SEM

Aiming at Phenomenal Cleanliness

Applications

使用扫描电镜（SEM）进行部件清洁度检测时发现铝矿物颗粒

组件清洁度检测

现今比以往任何时候都更需要可靠、高质量的组件。借助扫描电镜，可以实现备件清洁度分析，获得多种分析数据，从而缩短生产周期。

Techniques

能量色散谱EDS

能量色散谱(EDS)可采集详细的元素信息以及电子显微镜图像，为电镜观察提供关键的组成背景。利用EDS可通过快速、整体的表面扫描至各个原子以确定化学成分。

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3D EDS断层扫描

现代材料研究越来越依赖于三维的纳米级分析。3D电镜和能量色散X射线光谱可以3D表征包括整个化学和结构背景下的组分数据。

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EDS元素分析

EDS为电子显微镜观察提供重要的组分信息。尤其是我们独特的Super-X和Dual-X检测器系统添加了提高通量和/或灵敏度的选项，使您可以优化数据采集以满足您的研究优先级。

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使用EDS进行原子级元素映射

原子分辨率EDS通过区分单个原子的元素特性，为材料分析提供无与伦比的化学环境。当与高分辨率透射电镜TEM结合时，可以观察样品中原子的精确组织。

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颗粒分析

颗粒分析在纳米材料研究和质量控制中发挥着重要作用。纳米级分辨率和卓越的电子显微镜成像可以与专用软件相结合，以快速表征粉末和微粒。

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Energy Dispersive Spectroscopy

能量色散谱EDS

能量色散谱(EDS)可采集详细的元素信息以及电子显微镜图像，为电镜观察提供关键的组成背景。利用EDS可通过快速、整体的表面扫描至各个原子以确定化学成分。

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3D EDS Tomography

3D EDS断层扫描

现代材料研究越来越依赖于三维的纳米级分析。3D电镜和能量色散X射线光谱可以3D表征包括整个化学和结构背景下的组分数据。

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EDS Elemental Analysis

EDS元素分析

EDS为电子显微镜观察提供重要的组分信息。尤其是我们独特的Super-X和Dual-X检测器系统添加了提高通量和/或灵敏度的选项，使您可以优化数据采集以满足您的研究优先级。

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Atomic-scale EDS

使用EDS进行原子级元素映射

原子分辨率EDS通过区分单个原子的元素特性，为材料分析提供无与伦比的化学环境。当与高分辨率透射电镜TEM结合时，可以观察样品中原子的精确组织。

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Particle analysis

颗粒分析

颗粒分析在纳米材料研究和质量控制中发挥着重要作用。纳米级分辨率和卓越的电子显微镜成像可以与专用软件相结合，以快速表征粉末和微粒。

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