X射线打到样品表面会引起电子发射。当然,荷电校准是XPS分析的基础。如果表面是不导电绝缘体,那么发射电子导致表面积累正电荷。但是,当XPS测量使用单色X射线源时,杂散电子太少无法控制荷电,正电荷严重影响XPS谱。这会导致XPS谱峰向高结合能移动并伴随有畸变。因此,必需使用外部电子源提供补偿电子中和表面上的电荷。补偿电子稳定和控制荷电在中和态附近几个电子伏范围内。在采集的在完成数据谱采集后,使用热电科学仪器公司(Thermo Scientific)的Avantage数据系统中谱图处理工具校正谱峰微小移动。

组合离子枪

使用一把枪同时提供聚焦低能电子束和大面积离子流,比单独使用具有多个明显的优势。一种新颖、离子和电子组合枪已经问世,涵盖上述有势。这种独特的组合枪使用LaB6发射体ESCALAB 250Xi电子能谱仪中荷电补偿性能特点

  • 专利透镜、多模式静电中和源 
  • 0-5eV(模式1,mode1)荷电补偿 
  • 1000eV((模式2,mode2)成像/准直 
  • 上限500 µA (模式1,mode 1) 
  • 上限500 µA (模式2,mode 2) 
  • 惰性气体。推荐压气。

K-Alpha 电子能谱仪荷电补偿 

  • 双束源 
  • 适用于所有样品的单模式中和枪 
  • 适用于所有X射线束斑的单模式中和枪 
  • 超低能量束使得偏离参考位置最小 
  • 中和枪装有用于精确对中的静电偏转  

Theta Probe电子能谱仪中荷电补偿性能特征

  • 低能电子和离子组合中和枪 
  • 中和枪装有用于精确对中的静电偏转 
  • 低能弥散、高亮度电子枪 
  • REELS功能