Thermo Scientific™

Evolution™ 201/220 紫外-可见分光光度计

货号: 912A0889
Thermo Scientific™

Evolution™ 201/220 紫外-可见分光光度计

货号: 912A0889
此型号的新产品已经停产。请参阅最新型号:Evolution One/One Plus 分光光度计
 
货号
912A0889
单位规格
Each
产品线
Evolution 220
类型
分光光度计及平板电脑控制模块 - INTL
价格(CNY)
完整规格
基线平坦度±0.0010 A,200 至 800 nm,1.0 nm SBW,平滑化
认证/合规分析证书 (COA)、符合性证书 (COC)
描述Evolution 220 分光光度计及平板电脑控制模块 - 国际版
检测器类型双硅光电二极管
显示器
尺寸(长 x 宽 x 高)62.2 x 48.6 x 27.9 cm (24 x 19 x 11 in.)
产品线Evolution 220
光谱带宽可变:1.0 nm,2.0 nm
类型分光光度计及平板电脑控制模块 - INTL
Wavelength Range190 nm 到 1100 nm
漂移<0.0005 A/h,500 nm,1.0 nm SBW,1 h 预热
电气要求100/240 V,自动选择 50/60 Hz,最大 150 W
适用于(应用)光谱分析、元素分析和同位素分析
键盘密封膜
灯寿命7 年(典型值)
噪声0 A:<0.00015A;
1A:<0.00025 A;
2 A:<0.00080A;
260nm,1nm SBW,RMS
光学设计优化的 AFBG 微量池、优化的 AFBG 光纤、优化的 AFBG 材料
药典合规性测试(保证性能规格)
分辨率(甲苯-正己烷):≥1.8 A
光度准确度 (60 mg/L K2Cr2O7):±0.010A
杂散光:≤1% T @ 198nm:KCI;≤0.05%AT(在 220 nm 处):Nal,Kl
波长准确度:±0.5 nm(541.9、546.1 nm Hg 发射线),±0.8 nm(全范围)
波长重复精度:≤0.05 nm,546.1nm Hg 发射线重复扫描
光度精度1 A:±0.006A,2 A:±0.010 A,在 440 nm 处测量
光度显示-0.3 至 4.0A
光度范围>3.5 A
透射比重复性±0.0002 A
处理器嵌入 Microsoft Windows™ XP。Insight 2 软件也与 Windows 7 和 Windows 8.1 专业版兼容。
扫描纵坐标模式Absorbance,% Transmittance,% Reflectance,Kubelka-Munk,log (1/R),log (Abs),Abs*Factor,Intensity
扫描速度<1 至 6000 nm/min。(变量)
质保期每 3 年
波长精度±0.5 nm(541.9、546.1 nm 汞线),±0.8 nm(190 至 1100 nm 全范围)
波长数据间隔10、5、2、1.0、0.5、0.2、0.1 nm
波长重复性≤0.05 nm(546.11 nm 汞线,10次测量的 SD)
重量(公制)14.4 kg
Unit SizeEach
单位规格
Each
产品线
Evolution 201
类型
计算机控制紫外-可见分光光度计
价格(CNY)
完整规格
基线平坦度±0.0010 A,200 至 800 nm,1.0 nm SBW,平滑化
认证/合规ISO 9001:2008
连接USB 或 RS-232
描述Evolution 201 紫外-可见光分光光度计,计算机控制,随附欧洲/美国/英国规格电源电缆
检测器类型双硅光电二极管
显示器
尺寸(长 x 宽 x 高)62.2 x 48.6 x 27.9 cm (24 x 19 x 11 in.)
产品线Evolution 201
光谱带宽1.0 nm
类型计算机控制紫外-可见分光光度计
Wavelength Range190 nm 到 1100 nm
漂移<0.0005 A/h,500 nm,1.0 nm SBW,1 h 预热
电气要求100/240 V,自动选择 50/60 Hz,最大 150 W
维持比色皿高达 100 mm
包括欧盟/美国/英国电源线
灯寿命7 年(典型值)
噪声0 A:<0.00015A;
1A:<0.00025A;
2A:<0.00080A;
260 nm,1.0 nm SBW,RMS
光学设计双光束(带有样品和参考比色皿位置);Czerny-Turner 单色器
药典合规性测试
光度准确度 (60mg/L K2Cr2O7):±0.010 A
杂散光:≤1%T @ 198 nm:KCI;≤0.05%AT @ 220 nm:Nal,Kl
波长精度:541.9、546.1nm Hg 发射线 ±.5 nm,全范围 ±0.8 nm
波长重复性:≤0.05 nm,546.1 nm Hg 发射线重复扫描
光度显示-0.3 至 4.0A
光度范围>3.5 A
透射比重复性±0.0002 A
处理器Microsoft Windows 7、Windows 8
扫描纵坐标模式Absorbance,% Transmittance,% Reflectance,Kubelka-Munk,log (1/R). log (Abs) Abs*,Intensity
扫描速度<1 至 6000 nm/min。(变量)
质保期每 3 年
瓦数最大 150 W
波长精度±0.5 nm(541.9、546.1 nm 汞线),±0.8 nm(190 至 1100 nm 全范围)
波长数据间隔10、5、2、1.0、0.5、0.2、0.1 nm
波长重复性≤0.05 nm(546.1 nm 汞线,10次测量的 SD)
重量(英制)32 lb.
重量(公制)14.4 kg
Unit SizeEach
货号
单位规格
Each
产品线
Evolution 201
类型
分光光度计及平板电脑控制模块 - 美国、加拿大和日本
价格(CNY)
完整规格
基线平坦度±0.0010 A,200 至 800 nm,1.0 nm SBW,平滑化
认证/合规ISO 9001:2008
连接USB 或 RS-232
深度(英制)24.3 in.
深度(公制)62.2 mm
描述美国、加拿大、日本 Evolution 201 平板电脑控制模块
检测器类型双硅光电二极管
显示器
尺寸(长 x 宽 x 高)62.2 x 48.6 x 27.9 cm (24 x 19 x 11 in.)
产品线Evolution 201
光谱带宽1.0 nm
类型分光光度计及平板电脑控制模块 - 美国、加拿大和日本
Wavelength Range190 nm 到 1100 nm
漂移<0.0005 A/h,500 nm,1.0 nm SBW,1 h 预热
电气要求100/240 V,自动选择 50/60 Hz,最大 150 W
维持比色皿高达 100 mm
键盘密封膜
灯寿命7 年(典型值)
噪声0 A:<0.00015 A;
1 A:<0.00025 A;
2 A:<0.00080A;
260 nm,1.0 nm SBW,RMS
光学设计双光束(带有样品和参考比色皿位置);Czerny-Turner 单色器
药典合规性测试分辨率(甲苯己烷溶液):≥1.8 A
光度准确度 (60 mg/L K2Cr2O7):±0.010A
杂散光:≤1% T @ 198nm:KCI;≤0.05%AT(在 220 nm 处):Nal,Kl
波长准确度:±0.5 nm(541.9、546.1 nm Hg 发射线),±0.8 nm(全范围)
波长重复精度:≤0.05 nm,546.1nm Hg 发射线重复扫描
光度显示-0.3 至 4.0A
光度范围>3.5 A
透射比重复性±0.0002 A
处理器INSIGHT 2 软件与 Windows™ 7 和 Windows 8.1 专业版兼容。
扫描纵坐标模式Absorbance,% Transmittance,% Reflectance,Kubelka-Munk,log (1/R). log (Abs) Abs*,Intensity
扫描速度<1 至 6000 nm/min。(变量)
质保期每 3 年
瓦数最大 150 W
波长精度±0.5 nm(541.9、546.1 nm 汞线),±0.8 nm(190 至 1100 nm 全范围)
波长数据间隔10、5、2、1.0、0.5、0.2、0.1 nm
波长重复性≤0.05 nm(546.1 nm 汞线,10次测量的 SD)
重量(公制)14.4 kg
Unit SizeEach
货号
单位规格
Each
产品线
Evolution 201
类型
分光光度计及平板电脑控制模块 - INTL
价格(CNY)
完整规格
基线平坦度±0.0010 A,200 至 800 nm,1.0 nm SBW,平滑化
认证/合规ISO 9001:2008
连接USB 或 RS-232
深度(英制)24.3 in.
深度(公制)62.2 mm
描述Evolution 201 分光光度计及平板电脑控制模块 - 国际版
检测器类型双硅光电二极管
显示器
尺寸(长 x 宽 x 高)62.2 x 48.6 x 27.9 cm (24 x 19 x 11 in.)
产品线Evolution 201
光谱带宽1.0 nm
类型分光光度计及平板电脑控制模块 - INTL
Wavelength Range190 nm 到 1100 nm
漂移<0.0005 A/h,500 nm,1.0 nm SBW,1 h 预热
电气要求100/240 V,自动选择 50/60 Hz,最大 150 W
维持比色皿高达 100 mm
键盘密封膜
灯寿命7 年(典型值)
噪声0 A:<0.00015 A;
1 A:<0.00025 A;
2 A:<0.00080A;
260nm,1.0nm SBW,RMS
光学设计双光束(带有样品和参考比色皿位置);Czerny-Turner 单色器
药典合规性测试分辨率(甲苯己烷溶液):≥1.8 A
光度准确度 (60 mg/L K2Cr2O7):±0.010A
杂散光:≤1% T @ 198nm:KCI;≤0.05%AT(在 220 nm 处):Nal,Kl
波长准确度:±0.5 nm(541.9、546.1 nm Hg 发射线),±0.8 nm(全范围)
波长重复精度:≤0.05 nm,546.1nm Hg 发射线重复扫描
光度精度1 A:±0.006A,2 A:±0.010 A,在 440 nm 处测量
光度显示-0.3 至 4.0A
光度范围>3.5 A
透射比重复性±0.0002 A
处理器INSIGHT 2 软件与 Windows™ 7 和 Windows 8.1 专业版兼容。
扫描纵坐标模式Absorbance,% Transmittance,% Reflectance,Kubelka-Munk,log (1/R). log (Abs) Abs*,Intensity
扫描速度<1 至 6000 nm/min。(变量)
质保期每 3 年
瓦数最大 150 W
波长精度±0.5 nm(541.9、546.1 nm 汞线),±0.8 nm(190 至 1100 nm 全范围)
波长数据间隔10、5、2、1.0、0.5、0.2、0.1 nm
波长重复性≤0.05 nm(546.1 nm 汞线,10次测量的 SD)
重量(公制)14.4 kg
Unit SizeEach
货号
单位规格
Each
产品线
Evolution 220
类型
分光光度计及平板电脑控制模块 - 美国、加拿大和日本
价格(CNY)
完整规格
基线平坦度±0.0010 A,200 至 800 nm,1.0 nm SBW,平滑化
描述美国、加拿大、日本 Evolution 220 平板电脑控制模块
检测器类型双硅光电二极管
显示器
尺寸(长 x 宽 x 高)62.2 x 48.6 x 27.9 cm (24 x 19 x 11 in.)
产品线Evolution 220
光谱带宽可变:1.0 nm,2.0 nm
类型分光光度计及平板电脑控制模块 - 美国、加拿大和日本
Wavelength Range190 nm 到 1100 nm
漂移<0.0005 A/h,500 nm,1.0 nm SBW,1 h 预热
电气要求100/240 V,自动选择 50/60 Hz,最大 150 W
键盘密封膜
灯寿命7 年(典型值)
噪声0 A:<0.00015 A;
1 A:<0.00025 A;
2 A:<0.00080 A;
260 nm,1 nm SBW,RMS
光学设计优化的 AFBG 微量池、优化的 AFBG 光纤、优化的 AFBG 材料
药典合规性测试(保证性能规格)
分辨率(甲苯-正己烷):≥1.8 A
光度准确度 (60 mg/L K2Cr2O7):±0.010A
杂散光:≤1% T @ 198nm:KCI;≤0.05%AT(在 220 nm 处):Nal,Kl
波长准确度:±0.5 nm(541.9、546.1 nm Hg 发射线),±0.8 nm(全范围)
波长重复精度:≤0.05 nm,546.1nm Hg 发射线重复扫描
光度精度1 A:±0.006A,2 A:±0.010 A,在 440 nm 处测量
光度显示-0.3 至 4.0A
光度范围>3.5 A
透射比重复性±0.0002 A
处理器嵌入 Microsoft Windows™ XP。Insight 2 软件也与 Windows 7 和 Windows 8.1 专业版兼容。
扫描纵坐标模式Absorbance,% Transmittance,% Reflectance,Kubelka-Munk,log (1/R),log (Abs),Abs*Factor,Intensity
扫描速度<1 至 6000 nm/min。(变量)
质保期每 3 年
波长精度±0.5 nm(541.9、546.1 nm 汞线),±0.8 nm(190 至 1100 nm 全范围)
波长数据间隔10、5、2、1.0、0.5、0.2、0.1 nm
波长重复性≤0.05 nm(546.11 nm 汞线,10次测量的 SD)
重量(公制)14.4 kg
Unit SizeEach
显示5,共5
货号规格单位规格产品线类型价格(CNY)
912A0889完整规格
EachEvolution 220分光光度计及平板电脑控制模块 - INTL联系我们 ›
基线平坦度±0.0010 A,200 至 800 nm,1.0 nm SBW,平滑化
认证/合规分析证书 (COA)、符合性证书 (COC)
描述Evolution 220 分光光度计及平板电脑控制模块 - 国际版
检测器类型双硅光电二极管
显示器
尺寸(长 x 宽 x 高)62.2 x 48.6 x 27.9 cm (24 x 19 x 11 in.)
产品线Evolution 220
光谱带宽可变:1.0 nm,2.0 nm
类型分光光度计及平板电脑控制模块 - INTL
Wavelength Range190 nm 到 1100 nm
漂移<0.0005 A/h,500 nm,1.0 nm SBW,1 h 预热
电气要求100/240 V,自动选择 50/60 Hz,最大 150 W
适用于(应用)光谱分析、元素分析和同位素分析
键盘密封膜
灯寿命7 年(典型值)
噪声0 A:<0.00015A;
1A:<0.00025 A;
2 A:<0.00080A;
260nm,1nm SBW,RMS
光学设计优化的 AFBG 微量池、优化的 AFBG 光纤、优化的 AFBG 材料
药典合规性测试(保证性能规格)
分辨率(甲苯-正己烷):≥1.8 A
光度准确度 (60 mg/L K2Cr2O7):±0.010A
杂散光:≤1% T @ 198nm:KCI;≤0.05%AT(在 220 nm 处):Nal,Kl
波长准确度:±0.5 nm(541.9、546.1 nm Hg 发射线),±0.8 nm(全范围)
波长重复精度:≤0.05 nm,546.1nm Hg 发射线重复扫描
光度精度1 A:±0.006A,2 A:±0.010 A,在 440 nm 处测量
光度显示-0.3 至 4.0A
光度范围>3.5 A
透射比重复性±0.0002 A
处理器嵌入 Microsoft Windows™ XP。Insight 2 软件也与 Windows 7 和 Windows 8.1 专业版兼容。
扫描纵坐标模式Absorbance,% Transmittance,% Reflectance,Kubelka-Munk,log (1/R),log (Abs),Abs*Factor,Intensity
扫描速度<1 至 6000 nm/min。(变量)
质保期每 3 年
波长精度±0.5 nm(541.9、546.1 nm 汞线),±0.8 nm(190 至 1100 nm 全范围)
波长数据间隔10、5、2、1.0、0.5、0.2、0.1 nm
波长重复性≤0.05 nm(546.11 nm 汞线,10次测量的 SD)
重量(公制)14.4 kg
Unit SizeEach
840-210800完整规格
EachEvolution 201计算机控制紫外-可见分光光度计联系我们 ›
基线平坦度±0.0010 A,200 至 800 nm,1.0 nm SBW,平滑化
认证/合规ISO 9001:2008
连接USB 或 RS-232
描述Evolution 201 紫外-可见光分光光度计,计算机控制,随附欧洲/美国/英国规格电源电缆
检测器类型双硅光电二极管
显示器
尺寸(长 x 宽 x 高)62.2 x 48.6 x 27.9 cm (24 x 19 x 11 in.)
产品线Evolution 201
光谱带宽1.0 nm
类型计算机控制紫外-可见分光光度计
Wavelength Range190 nm 到 1100 nm
漂移<0.0005 A/h,500 nm,1.0 nm SBW,1 h 预热
电气要求100/240 V,自动选择 50/60 Hz,最大 150 W
维持比色皿高达 100 mm
包括欧盟/美国/英国电源线
灯寿命7 年(典型值)
噪声0 A:<0.00015A;
1A:<0.00025A;
2A:<0.00080A;
260 nm,1.0 nm SBW,RMS
光学设计双光束(带有样品和参考比色皿位置);Czerny-Turner 单色器
药典合规性测试
光度准确度 (60mg/L K2Cr2O7):±0.010 A
杂散光:≤1%T @ 198 nm:KCI;≤0.05%AT @ 220 nm:Nal,Kl
波长精度:541.9、546.1nm Hg 发射线 ±.5 nm,全范围 ±0.8 nm
波长重复性:≤0.05 nm,546.1 nm Hg 发射线重复扫描
光度显示-0.3 至 4.0A
光度范围>3.5 A
透射比重复性±0.0002 A
处理器Microsoft Windows 7、Windows 8
扫描纵坐标模式Absorbance,% Transmittance,% Reflectance,Kubelka-Munk,log (1/R). log (Abs) Abs*,Intensity
扫描速度<1 至 6000 nm/min。(变量)
质保期每 3 年
瓦数最大 150 W
波长精度±0.5 nm(541.9、546.1 nm 汞线),±0.8 nm(190 至 1100 nm 全范围)
波长数据间隔10、5、2、1.0、0.5、0.2、0.1 nm
波长重复性≤0.05 nm(546.1 nm 汞线,10次测量的 SD)
重量(英制)32 lb.
重量(公制)14.4 kg
Unit SizeEach
912A0883完整规格
EachEvolution 201分光光度计及平板电脑控制模块 - 美国、加拿大和日本联系我们 ›
基线平坦度±0.0010 A,200 至 800 nm,1.0 nm SBW,平滑化
认证/合规ISO 9001:2008
连接USB 或 RS-232
深度(英制)24.3 in.
深度(公制)62.2 mm
描述美国、加拿大、日本 Evolution 201 平板电脑控制模块
检测器类型双硅光电二极管
显示器
尺寸(长 x 宽 x 高)62.2 x 48.6 x 27.9 cm (24 x 19 x 11 in.)
产品线Evolution 201
光谱带宽1.0 nm
类型分光光度计及平板电脑控制模块 - 美国、加拿大和日本
Wavelength Range190 nm 到 1100 nm
漂移<0.0005 A/h,500 nm,1.0 nm SBW,1 h 预热
电气要求100/240 V,自动选择 50/60 Hz,最大 150 W
维持比色皿高达 100 mm
键盘密封膜
灯寿命7 年(典型值)
噪声0 A:<0.00015 A;
1 A:<0.00025 A;
2 A:<0.00080A;
260 nm,1.0 nm SBW,RMS
光学设计双光束(带有样品和参考比色皿位置);Czerny-Turner 单色器
药典合规性测试分辨率(甲苯己烷溶液):≥1.8 A
光度准确度 (60 mg/L K2Cr2O7):±0.010A
杂散光:≤1% T @ 198nm:KCI;≤0.05%AT(在 220 nm 处):Nal,Kl
波长准确度:±0.5 nm(541.9、546.1 nm Hg 发射线),±0.8 nm(全范围)
波长重复精度:≤0.05 nm,546.1nm Hg 发射线重复扫描
光度显示-0.3 至 4.0A
光度范围>3.5 A
透射比重复性±0.0002 A
处理器INSIGHT 2 软件与 Windows™ 7 和 Windows 8.1 专业版兼容。
扫描纵坐标模式Absorbance,% Transmittance,% Reflectance,Kubelka-Munk,log (1/R). log (Abs) Abs*,Intensity
扫描速度<1 至 6000 nm/min。(变量)
质保期每 3 年
瓦数最大 150 W
波长精度±0.5 nm(541.9、546.1 nm 汞线),±0.8 nm(190 至 1100 nm 全范围)
波长数据间隔10、5、2、1.0、0.5、0.2、0.1 nm
波长重复性≤0.05 nm(546.1 nm 汞线,10次测量的 SD)
重量(公制)14.4 kg
Unit SizeEach
912A0890完整规格
EachEvolution 201分光光度计及平板电脑控制模块 - INTL联系我们 ›
基线平坦度±0.0010 A,200 至 800 nm,1.0 nm SBW,平滑化
认证/合规ISO 9001:2008
连接USB 或 RS-232
深度(英制)24.3 in.
深度(公制)62.2 mm
描述Evolution 201 分光光度计及平板电脑控制模块 - 国际版
检测器类型双硅光电二极管
显示器
尺寸(长 x 宽 x 高)62.2 x 48.6 x 27.9 cm (24 x 19 x 11 in.)
产品线Evolution 201
光谱带宽1.0 nm
类型分光光度计及平板电脑控制模块 - INTL
Wavelength Range190 nm 到 1100 nm
漂移<0.0005 A/h,500 nm,1.0 nm SBW,1 h 预热
电气要求100/240 V,自动选择 50/60 Hz,最大 150 W
维持比色皿高达 100 mm
键盘密封膜
灯寿命7 年(典型值)
噪声0 A:<0.00015 A;
1 A:<0.00025 A;
2 A:<0.00080A;
260nm,1.0nm SBW,RMS
光学设计双光束(带有样品和参考比色皿位置);Czerny-Turner 单色器
药典合规性测试分辨率(甲苯己烷溶液):≥1.8 A
光度准确度 (60 mg/L K2Cr2O7):±0.010A
杂散光:≤1% T @ 198nm:KCI;≤0.05%AT(在 220 nm 处):Nal,Kl
波长准确度:±0.5 nm(541.9、546.1 nm Hg 发射线),±0.8 nm(全范围)
波长重复精度:≤0.05 nm,546.1nm Hg 发射线重复扫描
光度精度1 A:±0.006A,2 A:±0.010 A,在 440 nm 处测量
光度显示-0.3 至 4.0A
光度范围>3.5 A
透射比重复性±0.0002 A
处理器INSIGHT 2 软件与 Windows™ 7 和 Windows 8.1 专业版兼容。
扫描纵坐标模式Absorbance,% Transmittance,% Reflectance,Kubelka-Munk,log (1/R). log (Abs) Abs*,Intensity
扫描速度<1 至 6000 nm/min。(变量)
质保期每 3 年
瓦数最大 150 W
波长精度±0.5 nm(541.9、546.1 nm 汞线),±0.8 nm(190 至 1100 nm 全范围)
波长数据间隔10、5、2、1.0、0.5、0.2、0.1 nm
波长重复性≤0.05 nm(546.1 nm 汞线,10次测量的 SD)
重量(公制)14.4 kg
Unit SizeEach
912A0884完整规格
EachEvolution 220分光光度计及平板电脑控制模块 - 美国、加拿大和日本联系我们 ›
基线平坦度±0.0010 A,200 至 800 nm,1.0 nm SBW,平滑化
描述美国、加拿大、日本 Evolution 220 平板电脑控制模块
检测器类型双硅光电二极管
显示器
尺寸(长 x 宽 x 高)62.2 x 48.6 x 27.9 cm (24 x 19 x 11 in.)
产品线Evolution 220
光谱带宽可变:1.0 nm,2.0 nm
类型分光光度计及平板电脑控制模块 - 美国、加拿大和日本
Wavelength Range190 nm 到 1100 nm
漂移<0.0005 A/h,500 nm,1.0 nm SBW,1 h 预热
电气要求100/240 V,自动选择 50/60 Hz,最大 150 W
键盘密封膜
灯寿命7 年(典型值)
噪声0 A:<0.00015 A;
1 A:<0.00025 A;
2 A:<0.00080 A;
260 nm,1 nm SBW,RMS
光学设计优化的 AFBG 微量池、优化的 AFBG 光纤、优化的 AFBG 材料
药典合规性测试(保证性能规格)
分辨率(甲苯-正己烷):≥1.8 A
光度准确度 (60 mg/L K2Cr2O7):±0.010A
杂散光:≤1% T @ 198nm:KCI;≤0.05%AT(在 220 nm 处):Nal,Kl
波长准确度:±0.5 nm(541.9、546.1 nm Hg 发射线),±0.8 nm(全范围)
波长重复精度:≤0.05 nm,546.1nm Hg 发射线重复扫描
光度精度1 A:±0.006A,2 A:±0.010 A,在 440 nm 处测量
光度显示-0.3 至 4.0A
光度范围>3.5 A
透射比重复性±0.0002 A
处理器嵌入 Microsoft Windows™ XP。Insight 2 软件也与 Windows 7 和 Windows 8.1 专业版兼容。
扫描纵坐标模式Absorbance,% Transmittance,% Reflectance,Kubelka-Munk,log (1/R),log (Abs),Abs*Factor,Intensity
扫描速度<1 至 6000 nm/min。(变量)
质保期每 3 年
波长精度±0.5 nm(541.9、546.1 nm 汞线),±0.8 nm(190 至 1100 nm 全范围)
波长数据间隔10、5、2、1.0、0.5、0.2、0.1 nm
波长重复性≤0.05 nm(546.11 nm 汞线,10次测量的 SD)
重量(公制)14.4 kg
Unit SizeEach
显示5,共5
此型号的新产品已经停产。请参阅最新型号:Evolution One/One Plus 分光光度计

图表

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