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碳纳米材料和其他低维度材料有望在电子和过滤等多个行业中得到应用。随着对这些新型材料的研究,人们对低 kV 扫描透射电子显微镜 (STEM) 的兴趣也越来越高,这是因为该技术能够生成具有原子分辨率级别的图像。然而、此扫描能力会受到辐射水平的显著影响;只有在低于撞击损伤阈值(通常低于 60 kV )的低加速电压下、才可实现无射束损伤成像。

在此类低值下、分辨率限制导致的畸变可以严重破坏成像效果。电子束的单色化或使用冷场发射枪已被证明是降低色度模糊的可靠方法。探针校正器通过减少或可能甚至消除由低加速电压导致的畸变来进一步提高信号。

赛默飞世尔科技在 Thermo Fisher Scientific Spectra S/TEM 产品系列中将单色化和探针校正相结合,是 2D 材料成像的理想解决方案。通过使用 Spectra S/TEM,加上 Thermo Scientific S-CORR 探头校正器具有卓越的校正能力,而且 Thermo Scientific CETCOR 图像校正器可以对球面畸变进行补偿,因此加速电压可以低至 30 kV。


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    以高分辨率 TEM 成像的 2D 石墨烯。

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      以高分辨率 TEM 成像的 2D 石墨烯。

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      应用

      使用电镜进行基础材料研究

      基础材料研究

      越来越小的规模研究新型材料,以最大限度地控制其物理和化学特性。电子显微镜为研究人员提供了对微米到纳米级各种材料特性的重要见解。

       
       
       
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      技术

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      使用HRSTEM和HRTEM进行成像

      透射电镜对于表征纳米粒和纳米材料的结构具有宝贵价值。使用高分辨率STEM和TEM可获得化学成分的原子分辨率数据及信息。

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      差分相位对比成像

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      X射线光电子能谱

      X射线光电子能谱 (XPS) 能够进行表面分析,提供材料最上面10 nm的元素组成以及化学和电子状态。借助深度剖析,XPS分析可以扩展到各层的组成部分。

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      产品

      仪器卡片原件样式表

      Spectra 300

      • 获得原子水平的最高分辨率结构和化学信息
      • 30-300 kV 的灵活高张力范围
      • 三个透镜冷凝器系统

      Spectra 200

      • 用于 30-200 kV 加速电压的高分辨率和对比度成像
      • 宽间隙极片设计为 5.4 mm 的对称 S-TWIN/X-TWIN 物镜
      • 60 kV-200 kV 范围的亚埃 STEM 成像分辨率

      Nexsa G2 XPS

      • 微焦点 X 射线源
      • 独特的多技术选项
      • 用于单原子和簇离子深度剖析的双模式离子源

      K-Alpha XPS

      • 高分辨率 XPS
      • 快速、高效、自动化的工作流程
      • 用于深度剖析的离子源

      ESCALAB QXi XPS

      • 高光谱分辨率
      • 多技术表面分析
      • 丰富的样品制备和扩展选项
       
       
       

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