Talos F200S TEM

Transmission Electron Microscopes

Talos F200S G2 TEM

TEM microscope for high productivity, high resolution TEM and STEM characterization with chemical quantification.

c7c8 - 主要特点/性能数据/相关资源/应用/技术/文档/联系人

Talos F200S G2 Transmission Electron Microscope

The Thermo Scientific Talos F200S (S)TEM is a (scanning) transmission electron microscope that combines outstanding high-resolution STEM and TEM imaging with industry-leading energy dispersive X-ray spectroscopy (EDS). The Talos F200S (S)TEM features great versatility and high through in STEM imaging and allows for precise EDS analysis and high-resolution TEM (HRTEM) for dynamic microscopy.

Talos F200S G2 Transmission Electron Microscope advantages

The Thermo Scientific Talos F200S 200kV (S)TEM combines fast, multichannel, high-resolution (S)TEM imaging and precise compositional analysis to enable dynamic microscopy applications. With innovative features designed to increase throughput, precision, and ease of use, the Talos (S)TEM is ideal for advanced research and analysis across academic, government, and industrial research environments.

Talos F200S G2 Transmission Electron Microscope features

Intuitive software

Features Thermo Scientific Velox Software for fast and easy acquisition and analysis of multimodal data.

Precise chemical composition data

Rapid, precise, quantitative EDS analysis using two in-column Thermo Scientific SDD Super-X Detectors with unique cleanliness, revealing nanoscale details.

Better image data

High-throughput (S)TEM imaging with simultaneous, multiple signal detection delivers better contrast for high quality images.

Upgrade

Can be field upgraded to the Thermo Scientific Talos F200X (S)TEM.

Increased stability

Reduced environmental sensitivity thanks to the instrument enclosure, which moderates the impact of air pressure waves, air flows, and fine temperature variations in the TEM room.

Space for more

Add application-specific in situ sample holders for dynamic experiments.

Specifications

产品表格规范样式表

HRTEM line resolution	0.10
HRSTEM [nm]	0.16
Total beam current FEG	>150 nA
EDS system	2 SDD windowless design, shutter-protected
EDS energy resolution	≤136 eV for Mn-Kα and 10 kcps (output)
Fast EDS mapping	Pixel dwell times down to 10 μs
EDS Net solid angle	0.45 sr

Style Sheet for Komodo Tabs

Resources

Publications

Publication list for Talos for Materials Science

Title: Nanocharacterization of Strontium Titanate Thin Films and Oxide-Electrode Interfaces in Resistive Switching Devices
Authors: William J. Bowman, Eva Sediva, Peter Crozier, Jennifer L.M. Rupp
References: Microsc. Microanal. 22 (Suppl 3), 2016
DOI: 10.1017/S1431927616008680
Date: January 2017

Title: Multifunctionality of silver closo-boranes
Authors: Mark Paskevicius, Bjarne R. S. Hansen, Mathias Jørgensen, Bo Richter & Torben R. Jensen
References: Nature Communications 8, (2017)
DOI: 10.1038/ncomms15136
Date: April 2017

Title: ZnO/ZnGaNO heterostructure with enhanced photocatalytic properties prepared from a LDH precursor using a coprecipitation method
Authors: Yan-Ling Hu, Zhi Wu, Xianting Zheng, Nan Lin, Youhuang Yang, Jifu Zuo, Dongya Sun, Chunhai Jiang, Lan Sun, Changjian Lin, Yougsheng Fu
References: Journal of Alloys and Compounds - February 2017
DOI: 10.1016/j.jallcom.2017.02.124
Date: February 2017

Title: An efficient catalyst of manganese supported on diatomite for toluene oxidation: Manganese species, catalytic performance, and structure-activity relationship
Authors: Peng Liu, Hongping He, Gaoling Wei, Dong Liu, Xiaoliang Liang, Tianhu Chen, Jianxi Zhu, Runliang Zhu
References: Microporous and Mesoporous Materials, Volume 239, February 2017, Pages 101–110
DOI: 10.1016/j.micromeso.2016.09.053
Date: February 2017

Publications

Publication list for Talos for Materials Science

Title: Nanocharacterization of Strontium Titanate Thin Films and Oxide-Electrode Interfaces in Resistive Switching Devices
Authors: William J. Bowman, Eva Sediva, Peter Crozier, Jennifer L.M. Rupp
References: Microsc. Microanal. 22 (Suppl 3), 2016
DOI: 10.1017/S1431927616008680
Date: January 2017

Title: Multifunctionality of silver closo-boranes
Authors: Mark Paskevicius, Bjarne R. S. Hansen, Mathias Jørgensen, Bo Richter & Torben R. Jensen
References: Nature Communications 8, (2017)
DOI: 10.1038/ncomms15136
Date: April 2017

Title: ZnO/ZnGaNO heterostructure with enhanced photocatalytic properties prepared from a LDH precursor using a coprecipitation method
Authors: Yan-Ling Hu, Zhi Wu, Xianting Zheng, Nan Lin, Youhuang Yang, Jifu Zuo, Dongya Sun, Chunhai Jiang, Lan Sun, Changjian Lin, Yougsheng Fu
References: Journal of Alloys and Compounds - February 2017
DOI: 10.1016/j.jallcom.2017.02.124
Date: February 2017

Title: An efficient catalyst of manganese supported on diatomite for toluene oxidation: Manganese species, catalytic performance, and structure-activity relationship
Authors: Peng Liu, Hongping He, Gaoling Wei, Dong Liu, Xiaoliang Liang, Tianhu Chen, Jianxi Zhu, Runliang Zhu
References: Microporous and Mesoporous Materials, Volume 239, February 2017, Pages 101–110
DOI: 10.1016/j.micromeso.2016.09.053
Date: February 2017

Applications

采用电子显微镜进行过程控制

采用电镜进行过程控制

现代工业需求高通量、质量卓越、通过稳健的工艺控制维持平衡。SEM扫描电镜和TEM透射电镜工具结合专用的自动化软件，为过程监控和改进提供了快速、多尺度的信息。

使用电子显微镜进行质量控制和故障分析

质量控制和故障分析

质量控制和保证对于现代工业至关重要。我们提供一系列用于缺陷多尺度和多模式分析的 EM电子显微镜和光谱工具，使您可以为过程控制和改进做出可靠、明智的决策。

使用电镜进行基础材料研究

基础材料研究

越来越小的规模研究新型材料，以最大限度地控制其物理和化学特性。电子显微镜为研究人员提供了对微米到纳米级各种材料特性的重要见解。

Techniques

能量色散谱EDS

能量色散谱(EDS)可采集详细的元素信息以及电子显微镜图像，为电镜观察提供关键的组成背景。利用EDS可通过快速、整体的表面扫描至各个原子以确定化学成分。

了解更多 ›

3D EDS断层扫描

现代材料研究越来越依赖于三维的纳米级分析。3D电镜和能量色散X射线光谱可以3D表征包括整个化学和结构背景下的组分数据。

了解更多 ›

EDS元素分析

EDS为电子显微镜观察提供重要的组分信息。尤其是我们独特的Super-X和Dual-X检测器系统添加了提高通量和/或灵敏度的选项，使您可以优化数据采集以满足您的研究优先级。

了解更多 ›

使用EDS进行原子级元素映射

原子分辨率EDS通过区分单个原子的元素特性，为材料分析提供无与伦比的化学环境。当与高分辨率透射电镜TEM结合时，可以观察样品中原子的精确组织。

了解更多 ›

电子能量损失谱

材料科学研究借助高分辨率EELS得以进行广泛的分析应用。这包括高通量、高信噪比元素映射，以及氧化状态和表面声子的探测。

了解更多 ›

原位实验

需要通过电子显微镜直接实时观察微观结构变化，以便了解在加热、冷却和润湿过程中的动态过程（如再结晶、晶粒生长和相变）的基本原理。

了解更多 ›

颗粒分析

颗粒分析在纳米材料研究和质量控制中发挥着重要作用。纳米级分辨率和卓越的电子显微镜成像可以与专用软件相结合，以快速表征粉末和微粒。

了解更多 ›

多尺度分析

必须在更高分辨率下分析新材料，同时保留较大的样品背景。多尺度分析允许多种成像工具和模态（如X射线microCT、DualBeam、激光PFIB、SEM和TEM）关联。

了解更多 ›

自动化颗粒工作流程

自动化纳米颗粒工作流程(APW)是一种用于纳米颗粒分析的透射电子显微镜工作流程，提供纳米级大面积、高分辨率的纳米级成像和数据采集，并进行即时处理。

了解更多 ›

Energy Dispersive Spectroscopy

能量色散谱EDS

能量色散谱(EDS)可采集详细的元素信息以及电子显微镜图像，为电镜观察提供关键的组成背景。利用EDS可通过快速、整体的表面扫描至各个原子以确定化学成分。

了解更多 ›

3D EDS Tomography

3D EDS断层扫描

现代材料研究越来越依赖于三维的纳米级分析。3D电镜和能量色散X射线光谱可以3D表征包括整个化学和结构背景下的组分数据。

了解更多 ›

EDS Elemental Analysis

EDS元素分析

EDS为电子显微镜观察提供重要的组分信息。尤其是我们独特的Super-X和Dual-X检测器系统添加了提高通量和/或灵敏度的选项，使您可以优化数据采集以满足您的研究优先级。

了解更多 ›

Atomic-scale EDS

使用EDS进行原子级元素映射

原子分辨率EDS通过区分单个原子的元素特性，为材料分析提供无与伦比的化学环境。当与高分辨率透射电镜TEM结合时，可以观察样品中原子的精确组织。

了解更多 ›

电子能量损失谱

材料科学研究借助高分辨率EELS得以进行广泛的分析应用。这包括高通量、高信噪比元素映射，以及氧化状态和表面声子的探测。

了解更多 ›

in-situ experimentation

原位实验

需要通过电子显微镜直接实时观察微观结构变化，以便了解在加热、冷却和润湿过程中的动态过程（如再结晶、晶粒生长和相变）的基本原理。

了解更多 ›

Particle Analysis

颗粒分析

颗粒分析在纳米材料研究和质量控制中发挥着重要作用。纳米级分辨率和卓越的电子显微镜成像可以与专用软件相结合，以快速表征粉末和微粒。

了解更多 ›

Multi-scale Analysis

多尺度分析

必须在更高分辨率下分析新材料，同时保留较大的样品背景。多尺度分析允许多种成像工具和模态（如X射线microCT、DualBeam、激光PFIB、SEM和TEM）关联。

了解更多 ›

Automated Particle Workflow

自动化颗粒工作流程

自动化纳米颗粒工作流程(APW)是一种用于纳米颗粒分析的透射电子显微镜工作流程，提供纳米级大面积、高分辨率的纳米级成像和数据采集，并进行即时处理。

了解更多 ›

Documents

用于将 H2 样式更改为具有 em-h2-header 类 p 的样式表

Contact us

用于材料科学的
电子显微镜服务

为实现理想的系统性能，我们为您提供了由现场服务专家、技术支持部门和认证备件组成的全球网络支持。

电子显微镜支持和资源

支持和服务页脚样式表

字体样式表

卡片样式表