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电子能量损失谱
在过去的三十年中，电子能量损失谱 (EELS) 已成为一项强大的表征技术。电子能量损失谱与透射电子显微镜 (TEM)结合使用，可以提供原子级的化学和结构表征。这包括有关元素组成、化学键合、氧化态、价带和导带电子特性以及表面特性的信息。它还可以与其他技术（例如电子断层扫描）结合使用，以提供元素和氧化态的高级三维分布。
随着材料表征的要求越来越高，越来越需要对具有越来越小的特征的日益复杂的结构进行高度局域化的表征。幸运的是，EELS 和 S/TEM 仪器的改进已经跟上了这些需求，包括 S/TEM 透镜的球面像差校正，以及使用单色器来提高能量分辨率，提供亚埃空间分辨率和更高的探头电流。
EELS TEM
在Thermo Scientific Spectra上使用我们的 X-FEG/Mono、X-FEG/UltiMono 和 X-CFEG 电子枪，在Thermo Scientific Talos S/TEM平台上使用 X-FEG，Thermo Fisher Scientific 涵盖了您的所有 EELS 应用。这些系统让您能够进行超高分辨率 EELS 分析，以获取原子级的、有价值的结构、元素和化学信息。
BaTiO₃/SrTiO₃ 界面的 EELS 原子级分辨率元素图。蓝色为钡，红色为锶，绿色为钛。使用 1 eV 半高全宽 (FWHM) 电子探针（49x49 像素，<90 秒）在 80 kV (60 pA) 下成像。
使用半高全宽 (FWHM) 电子探针 <30 meV 的单色性的电子探针在 60 kV 下绘制氧化镁晶体中的表面声子模式。样品和分析由麦克马斯特大学（McMaster University）加拿大电子显微镜中心的 Isobel Bicket 和 Gianluigi Botton 教授提供。
OptiMono+ 在 60 kV 下的 X-FEG/UltiMono 可以激发从单色器关闭状态的 1 eV 能量分辨率到单色器完全激发态的 <30 meV。
使用 <0.2 eV 能量分辨率的电子探针研究了沿着金纳米线的等离子体激发的局部位置与激发能量（0.18-1.2 eV 之间）的关系。
BaTiO₃/SrTiO₃ 界面的 EELS 原子级分辨率元素图。蓝色为钡，红色为锶，绿色为钛。使用 1 eV 半高全宽 (FWHM) 电子探针（49x49 像素，<90 秒）在 80 kV (60 pA) 下成像。
使用半高全宽 (FWHM) 电子探针 <30 meV 的单色性的电子探针在 60 kV 下绘制氧化镁晶体中的表面声子模式。样品和分析由麦克马斯特大学（McMaster University）加拿大电子显微镜中心的 Isobel Bicket 和 Gianluigi Botton 教授提供。
OptiMono+ 在 60 kV 下的 X-FEG/UltiMono 可以激发从单色器关闭状态的 1 eV 能量分辨率到单色器完全激发态的 <30 meV。
使用 <0.2 eV 能量分辨率的电子探针研究了沿着金纳米线的等离子体激发的局部位置与激发能量（0.18-1.2 eV 之间）的关系。
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