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现代尖端金属越来越多的采用纳米级设计,提高了耐用性、可靠性和成本。即使是传统工艺,现在也需要进行显微镜检查,以确定所得到的材料的元素和结构组成。

尤其是,金属的有效生产需要精确控制夹杂物和沉淀物。根据它们的一致性和分布,这些可能会增加材料强度或成为污染物,从而严重影响质量和使用寿命。这些微观性质可包括:

  • 在滚动、退火或热压过程中形成的纳米沉淀物
  • 纳米级形态变化(不对位、起始位点开裂)
  • 晶粒边界
  • 可导致炼钢生产中断的氧化夹杂物

以往,研究人员一直使用光学显微镜来评估夹杂物的大小和数量,但该方法不提供任何元素信息。即使是可确定夹杂物的元素比例的光学发射谱也不能准确表征单个夹杂物的形状和成分。电子显微镜技术已被用于金属分析,其中扫描电子显微镜 (SEM) 能够可视化较大的夹杂氧化物,而在对小于 100 nm 的特征进行研究时,通常需要使用透射电子显微镜 (TEM)。但是,过去的 TEM 分析需要人工颗粒计数和分析,因而每天只能采集到几十个颗粒的数据。

Stainless steel medical device sample prepared by PFIB milling.
由 PFIB CXe 制成不锈钢医疗设备样品,总尺寸为 55 x 70 μm。红色框指示可使用典型镓 FIB 在相同时间内制备的面积。

赛默飞世尔科技提供一系列电子显微镜解决方案,不仅使金属分析的信息量更丰富,而且速度更快。借助我们独特的自动化功能,能够在一小时内对几百(甚至几千)的沉淀物进行元素和结构组成综述,而人工分析一天只能发现几十种。除了块体的统计信息,还可以非常详细地看到单独的沉淀物,从而能够对金属进行多尺度概述。

我们可靠的自动化仪器可执行多种关键任务,包括:

Zirconium alloy sample, analyzed with electron backscatter diffraction to produce a 3D microstructural reconstruction.
由 400 个切片重建的锆合金样本的电子背散射衍射 (EBSD) 提供的 3D 微观结构信息。样品由曼彻斯特大学提供。

相关资源

Talos F200X S/TEM analysis of Aluminum 7075 aerospace alloy showing a) HAADF STEM image, b) zinc EDS map,  c) zinc particle segmentation.  Sample courtesy of University of Manchester and University of Trento.
铝 7075 航空航天合金的 Talos F200X S/TEM 分析显示:a) HAADF STEM 图像,b) 锌 EDS 图谱,c) 锌颗粒分割。样品由曼彻斯特大学和特伦托大学提供。
Talos F200X S/TEM analysis of Aluminum 7075 aerospace alloy showing a) magnesium particle segmentation, b) zinc particle segmentation, and c) Co-Located magnesium and zinc compounds shown in orange.  Sample courtesy of University of Manchester and University of Trento.
铝 7075 航空航天合金的 Talos F200X S/TEM 分析显示:a) 镁颗粒分割,b) 锌颗粒分割,c) 同位置镁和锌化合物显示橙色。样品由曼彻斯特大学和特伦托大学提供。
Talos F200X S/TEM analysis of Aluminum 7075 aerospace alloy showing a) HAADF STEM image and b) corresponding APW particle map of magnesium and zinc compounds.  Sample courtesy of University of Manchester and University of Trento.
铝 7075 航空航天合金的 Talos F200X S/TEM 分析显示:a) HAADF STEM 图像,b) 镁和锌化合物的相应 APW 颗粒图谱。样品由曼彻斯特大学和特伦托大学提供。
Talos F200X S/TEM analysis of high strength low alloy steel carbon replica.  HAADF STEM image shows precipitates and grain boundaries as a lighter color on a dark background.  Sample courtesy of OCAS.
高强度低合金钢碳复型的 Talos F200X S/TEM 分析。HAADF STEM 图像在暗背景上将沉淀物和晶粒边界显示为较浅颜色。样品由 OCAS 提供。
Talos F200X S/TEM analysis via Automated Particle Workflow of high strength low alloy steel carbon replica. Zoom area of the segmented particle map shows titanium in gold, niobium in pink and where they overlap is orange. Sample courtesy of OCAS.
Talos F200X S/TEM 通过高强度低合金钢碳复型的自动化颗粒工作流程进行分析。分割颗粒图谱的放大区域显示钛为金色,铌为粉红色,两者重叠处为橙色。样品由 OCAS 提供。
Talos F200X S/TEM analysis via Automated Particle Workflow of high strength low alloy steel carbon replica.  Chart shows compound particle (TiN + NbC) size distribution, and segmented particle map shows titanium in gold, niobium in pink and where they overlap is orange.  Sample courtesy of OCAS.
Talos F200X S/TEM 通过高强度低合金钢碳复型的自动化颗粒工作流程进行分析。图表显示复合颗粒 (TiN + NbC) 的粒径分布,分割颗粒图谱显示钛为金色,铌为粉红色,两者重叠处为橙色。样品由 OCAS 提供。
Talos F200X S/TEM analysis of additively manufactured 17-4 PH stainless steel showing: a) HAADF STEM image of a precipitate in the TEM lamella, and b) manual EDS mapping of the complex precipitate which contains a majority of MnSi oxide at the center and precipitates of Cu and NbN on the perimeter.  Sample courtesy of University of Connecticut.
对增材制造的 17-4 PH 不锈钢进行 Talos F200X S/TEM 分析,结果显示:a) TEM 片晶中沉淀物的 HAADF STEM 图像,以及 b) 复合沉淀物的手动 EDS 映射,其中心含有大部分 MnSi 氧化物,外围含有 Cu 和 NbN 沉淀物。样品由康涅狄格大学提供。
High resolution APW analysis showing EDS maps of Silicon (green) and Niobium (red) or Avizo particle quantification of silicon particles.
高分辨率 APW 分析显示硅(绿色)和铌(红色)的 EDS 图谱或硅颗粒的 Avizo 颗粒定量。样品由康涅狄格大学提供
Forged steel cylinder polished section observed by Phenom ParticleX Steel. Backscattered imaging reveals the spatial distribution of large (> 5 μm) and small (< 1 μm) titanium rich particles. Sample courtesy of GKN Aerospace.
使用 Phenom ParticleX Steel 观察锻钢圆筒抛光截面。反向散射成像可显示大 (> 5 μm) 和小 (< 1 μm) 富钛颗粒的空间分布。样品由 GKN Aerospace 提供。
Forged steel cylinder surface analyzed by the Thermo Scientific Nexsa G2 Surface Analysis System with depth profiling. It reveals the passivated layer of chromium oxide with the unoxidized steel beneath. Sample courtesy of GKN Aerospace.
使用 ParticleX Steel 在 50 mm2 以上的锻钢圆筒抛光截面进行扫描,以表征非金属夹杂物。该三元相图显示该钢合金中硫化钛和氮化钛的大小和成分分布。样品由 GKN Aerospace 提供。
Forged steel cylinder surface observed by Axia ChemiSEM.  This area has been machined which exposed large non-metallic phases.  ChemiSEM EDS mapping confirmed that the particles are titanium rich.  Sample courtesy of GKN Aerospace.
使用 Axia ChemiSEM 观察锻钢圆筒表面。该区域已进行加工,暴露出大量非金属相。ChemiSEM EDS 映射证实了颗粒富含钛。样品由 GKN Aerospace 提供。
Forged steel cylinder surface analyzed by the Thermo Scientific Nexsa G2 Surface Analysis System. Optical micrograph reveals some of the machining detail on this heat treated sample. Sample courtesy of GKN Aerospace.
利用 Thermo Scientific Nexsa G2 表面分析系统分析锻钢圆筒表面。光学显微照片显示该热处理样品的一些加工细节。样品由 GKN Aerospace 提供。
Forged steel cylinder surface analyzed by XPS with depth profiling.  It reveals the passivated layer of chromium oxide with the unoxidized steel beneath. Sample courtesy of GKN Aerospace.
通过 XPS 对锻钢圆筒表面进行深度剖析分析。其显示了氧化铬的钝化层以及下方的未氧化钢。样品由 GKN Aerospace 提供。
 
Friction stir welded aerospace aluminum alloy was etched and studied with Axia ChemiSEM.  Avizo2D software characterized the particle size in three different regions: base metal, heat affected zone and in the weld.  Sample courtesy of GKN Aerospace.
用 Axia ChemiSEM 对搅拌摩擦焊接航空航天铝合金进行刻蚀研究。Avizo2D 软件对三个不同区域的粒径进行了表征:基底金属区、热影响区和焊接区。样品由 GKN Aerospace 提供。
Friction stir welded aerospace aluminum alloy was etched and studied with Axia ChemiSEM. Backscattered electron image reveals bright phase particles which have a higher average atomic weight than the base metal. Sample courtesy of GKN Aerospace.
用 Axia ChemiSEM 对搅拌摩擦焊接航空航天铝合金进行刻蚀研究。反向散射电子图像显示存在明亮相颗粒,其平均原子量高于基底金属。样品由 GKN Aerospace 提供。
Friction stir welded aerospace aluminum alloy was etched and studied with Axia ChemiSEM.  Bright phase particles rich in iron stand out from the base metal.  Sample courtesy of GKN Aerospace.
用 Axia ChemiSEM 对搅拌摩擦焊接航空航天铝合金进行刻蚀研究。在基底金属中可突显富含铁的明亮相颗粒。样品由 GKN Aerospace 提供。
Friction stir welded aerospace aluminum alloy was scanned by ParticleX Steel over 568 mm<sup>2</sup> to characterize particles brighter than the base metal. This Fe-Mn-Cu ternary diagram shows the chemical distribution of 65k bright phase particles. Sample courtesy of GKN Aerospace.
使用 ParticleX Steel 对 568 mm2 以上的搅拌摩擦焊接航空航天铝合金进行扫描,以表征比基底金属更亮的颗粒。该 Fe-Mn-Cu 三元相图显示了 65k 个明亮相颗粒的化学分布。样品由 GKN Aerospace 提供。
Friction stir welded aerospace aluminum alloy was scanned by ParticleX Steel over 568 mm2 to characterize particles brighter than the base metal.  This particle table shows the majority of the 65k particles contain a portion of iron, manganese and copper. Sample courtesy of GKN Aerospace.
使用 ParticleX Steel 对 568 mm2 以上的搅拌摩擦焊接航空航天铝合金进行扫描,以表征比基底金属更亮的颗粒。该颗粒表显示了 65k 个颗粒中的大部分包含一部分铁、锰和铜。样品由 GKN Aerospace 提供。
 
Metal cross-section imaged with STEM, revealing precipitates and dislocations.
用聚焦离子束制备的金属横截面的 STEM 图像,清楚地揭示了沉淀(左框)和错位(右框)。图像宽度约 10 μm。
Chromium, nickel and copper in a stainless steel medical device, identified with EDS elemental analysis.
采用 PFIB 铣削制成不锈钢医疗器械样品,总尺寸为 55 x 70 mm。过夜元素 EDS 分析(蓝色,左 = 铬;绿色,中间 = 镍;黄色,右 = 铜)显示整个样品中存在大量铜沉淀物。
 
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    通过 APW 对氮化钛纳米颗粒进行表征的镍基高温合金样品。

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      通过 APW 定量的高强度低合金钢沉淀物的碳复型。

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        AlMgSi 合金中沉淀物的 3D EDS TEM 断层扫描。

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          在增材制造的不锈钢中显示复合物特征的高分辨率 APW。

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            Maps and Avizo2D recordings (left and right) running side by side during an acquisition.

            网络讲座

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              网络讲座:通过自动化 TEM 表征纳米颗粒。

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                网络讲座:航空航天和国防工业相关显微镜

                TEM 文章

                Ti\\Al 系统中 Ti3Al 定向沉淀的纳米级起源

                Hao Wu, Guohua Fan, Lin Geng, Xiping Cui, Meng Huang

                DOI 链接


                热处理对增材制造和锻造 17-4PH 不锈钢显微结构演变的影响

                Yu Sun, Rainer J. Hebert, Mark Aindow

                DOI 链接


                H 相沉淀物的相干应变及其对镍钛铪形状记忆合金功能特性的影响

                Behnam Amin-Ahmadi,⁎, Joseph G. Pauza, Ali Shamimi, Tom W. Duerig, Ronald D. Noebe, Aaron P. Stebner

                DOI 链接


                激光扫描长度对增材制造的 17-4PH 不锈钢薄壁零件显微结构的影响

                Yu Sun, Rainer J. Hebert, Mark Aindow

                DOI 链接


                选择性激光熔化技术生产的 17-4PH 不锈钢零件中的非金属夹杂物

                Yu Sun, Rainer J. Hebert, Mark Aindow

                DOI 链接


                SDB 文库网络讲座来源(仅供参考)

                Joachim Mayer, RWTH Aachen

                “滚动接触疲劳下 SAE 52100 轴承钢中白蚀区的形成 - 扩散氢的影响”
                M. Oezel, A. Schwedt, T. Janitzky, R. Kelley, C.Bouchet-Marquis, L. Pullan, C. Broeckmann, J. Mayer
                Wear, Volumes 414-415, November 2018, Pages 352-365.

                DOI 链接


                Philip Withers, University of Manchester

                “工业齿轮油:摩擦学性能和次表面变化”
                Aduragbemi Adebogun, Robert Hudson, Angela Breakspear, Chris Warrens, Ali Gholinia, Allan Matthews, Philip Withers Tribology Letters (2018) 66:65.

                DOI 链接


                Jun Tan, Shenyang National Laboratory for Materials Science

                “通过与高分辨率 TEM 相关的双束 FIB/SEM 系统了解碳素钢的大气腐蚀”
                Corrosion Science 152 (2019) 226–233.

                DOI 链接


                Yu-Lung Chiu, University of Birmingham

                “焊接涡轮盘高温合金的微拉伸强度”
                K.M.Oluwasegun, C. Cooper, Y. L. Chiu, I.P. Jones, H. Y. Li, G. Baxter
                Materials Science & Engineering A 596 (2014) 229–235.

                DOI 链接


                Chris Pistorius, Carnegie Mellon University

                “等离子体 FIB 在钢中单氧化物夹杂物分析中的应用”
                D. Kumar, N.T.Nuhfer, M.E.Ferreira and P.C.Pistorius
                Metallurgical and Materials Transactions B, Volume 50B, June 2019, Pages 1124-1127.

                DOI 链接


                Talos F200X S/TEM analysis of Aluminum 7075 aerospace alloy showing a) HAADF STEM image, b) zinc EDS map,  c) zinc particle segmentation.  Sample courtesy of University of Manchester and University of Trento.
                铝 7075 航空航天合金的 Talos F200X S/TEM 分析显示:a) HAADF STEM 图像,b) 锌 EDS 图谱,c) 锌颗粒分割。样品由曼彻斯特大学和特伦托大学提供。
                Talos F200X S/TEM analysis of Aluminum 7075 aerospace alloy showing a) magnesium particle segmentation, b) zinc particle segmentation, and c) Co-Located magnesium and zinc compounds shown in orange.  Sample courtesy of University of Manchester and University of Trento.
                铝 7075 航空航天合金的 Talos F200X S/TEM 分析显示:a) 镁颗粒分割,b) 锌颗粒分割,c) 同位置镁和锌化合物显示橙色。样品由曼彻斯特大学和特伦托大学提供。
                Talos F200X S/TEM analysis of Aluminum 7075 aerospace alloy showing a) HAADF STEM image and b) corresponding APW particle map of magnesium and zinc compounds.  Sample courtesy of University of Manchester and University of Trento.
                铝 7075 航空航天合金的 Talos F200X S/TEM 分析显示:a) HAADF STEM 图像,b) 镁和锌化合物的相应 APW 颗粒图谱。样品由曼彻斯特大学和特伦托大学提供。
                Talos F200X S/TEM analysis of high strength low alloy steel carbon replica.  HAADF STEM image shows precipitates and grain boundaries as a lighter color on a dark background.  Sample courtesy of OCAS.
                高强度低合金钢碳复型的 Talos F200X S/TEM 分析。HAADF STEM 图像在暗背景上将沉淀物和晶粒边界显示为较浅颜色。样品由 OCAS 提供。
                Talos F200X S/TEM analysis via Automated Particle Workflow of high strength low alloy steel carbon replica. Zoom area of the segmented particle map shows titanium in gold, niobium in pink and where they overlap is orange. Sample courtesy of OCAS.
                Talos F200X S/TEM 通过高强度低合金钢碳复型的自动化颗粒工作流程进行分析。分割颗粒图谱的放大区域显示钛为金色,铌为粉红色,两者重叠处为橙色。样品由 OCAS 提供。
                Talos F200X S/TEM analysis via Automated Particle Workflow of high strength low alloy steel carbon replica.  Chart shows compound particle (TiN + NbC) size distribution, and segmented particle map shows titanium in gold, niobium in pink and where they overlap is orange.  Sample courtesy of OCAS.
                Talos F200X S/TEM 通过高强度低合金钢碳复型的自动化颗粒工作流程进行分析。图表显示复合颗粒 (TiN + NbC) 的粒径分布,分割颗粒图谱显示钛为金色,铌为粉红色,两者重叠处为橙色。样品由 OCAS 提供。
                Talos F200X S/TEM analysis of additively manufactured 17-4 PH stainless steel showing: a) HAADF STEM image of a precipitate in the TEM lamella, and b) manual EDS mapping of the complex precipitate which contains a majority of MnSi oxide at the center and precipitates of Cu and NbN on the perimeter.  Sample courtesy of University of Connecticut.
                对增材制造的 17-4 PH 不锈钢进行 Talos F200X S/TEM 分析,结果显示:a) TEM 片晶中沉淀物的 HAADF STEM 图像,以及 b) 复合沉淀物的手动 EDS 映射,其中心含有大部分 MnSi 氧化物,外围含有 Cu 和 NbN 沉淀物。样品由康涅狄格大学提供。
                High resolution APW analysis showing EDS maps of Silicon (green) and Niobium (red) or Avizo particle quantification of silicon particles.
                高分辨率 APW 分析显示硅(绿色)和铌(红色)的 EDS 图谱或硅颗粒的 Avizo 颗粒定量。样品由康涅狄格大学提供
                Forged steel cylinder polished section observed by Phenom ParticleX Steel. Backscattered imaging reveals the spatial distribution of large (> 5 μm) and small (< 1 μm) titanium rich particles. Sample courtesy of GKN Aerospace.
                使用 Phenom ParticleX Steel 观察锻钢圆筒抛光截面。反向散射成像可显示大 (> 5 μm) 和小 (< 1 μm) 富钛颗粒的空间分布。样品由 GKN Aerospace 提供。
                Forged steel cylinder surface analyzed by the Thermo Scientific Nexsa G2 Surface Analysis System with depth profiling. It reveals the passivated layer of chromium oxide with the unoxidized steel beneath. Sample courtesy of GKN Aerospace.
                使用 ParticleX Steel 在 50 mm2 以上的锻钢圆筒抛光截面进行扫描,以表征非金属夹杂物。该三元相图显示该钢合金中硫化钛和氮化钛的大小和成分分布。样品由 GKN Aerospace 提供。
                Forged steel cylinder surface observed by Axia ChemiSEM.  This area has been machined which exposed large non-metallic phases.  ChemiSEM EDS mapping confirmed that the particles are titanium rich.  Sample courtesy of GKN Aerospace.
                使用 Axia ChemiSEM 观察锻钢圆筒表面。该区域已进行加工,暴露出大量非金属相。ChemiSEM EDS 映射证实了颗粒富含钛。样品由 GKN Aerospace 提供。
                Forged steel cylinder surface analyzed by the Thermo Scientific Nexsa G2 Surface Analysis System. Optical micrograph reveals some of the machining detail on this heat treated sample. Sample courtesy of GKN Aerospace.
                利用 Thermo Scientific Nexsa G2 表面分析系统分析锻钢圆筒表面。光学显微照片显示该热处理样品的一些加工细节。样品由 GKN Aerospace 提供。
                Forged steel cylinder surface analyzed by XPS with depth profiling.  It reveals the passivated layer of chromium oxide with the unoxidized steel beneath. Sample courtesy of GKN Aerospace.
                通过 XPS 对锻钢圆筒表面进行深度剖析分析。其显示了氧化铬的钝化层以及下方的未氧化钢。样品由 GKN Aerospace 提供。
                 
                Friction stir welded aerospace aluminum alloy was etched and studied with Axia ChemiSEM.  Avizo2D software characterized the particle size in three different regions: base metal, heat affected zone and in the weld.  Sample courtesy of GKN Aerospace.
                用 Axia ChemiSEM 对搅拌摩擦焊接航空航天铝合金进行刻蚀研究。Avizo2D 软件对三个不同区域的粒径进行了表征:基底金属区、热影响区和焊接区。样品由 GKN Aerospace 提供。
                Friction stir welded aerospace aluminum alloy was etched and studied with Axia ChemiSEM. Backscattered electron image reveals bright phase particles which have a higher average atomic weight than the base metal. Sample courtesy of GKN Aerospace.
                用 Axia ChemiSEM 对搅拌摩擦焊接航空航天铝合金进行刻蚀研究。反向散射电子图像显示存在明亮相颗粒,其平均原子量高于基底金属。样品由 GKN Aerospace 提供。
                Friction stir welded aerospace aluminum alloy was etched and studied with Axia ChemiSEM.  Bright phase particles rich in iron stand out from the base metal.  Sample courtesy of GKN Aerospace.
                用 Axia ChemiSEM 对搅拌摩擦焊接航空航天铝合金进行刻蚀研究。在基底金属中可突显富含铁的明亮相颗粒。样品由 GKN Aerospace 提供。
                Friction stir welded aerospace aluminum alloy was scanned by ParticleX Steel over 568 mm<sup>2</sup> to characterize particles brighter than the base metal. This Fe-Mn-Cu ternary diagram shows the chemical distribution of 65k bright phase particles. Sample courtesy of GKN Aerospace.
                使用 ParticleX Steel 对 568 mm2 以上的搅拌摩擦焊接航空航天铝合金进行扫描,以表征比基底金属更亮的颗粒。该 Fe-Mn-Cu 三元相图显示了 65k 个明亮相颗粒的化学分布。样品由 GKN Aerospace 提供。
                Friction stir welded aerospace aluminum alloy was scanned by ParticleX Steel over 568 mm2 to characterize particles brighter than the base metal.  This particle table shows the majority of the 65k particles contain a portion of iron, manganese and copper. Sample courtesy of GKN Aerospace.
                使用 ParticleX Steel 对 568 mm2 以上的搅拌摩擦焊接航空航天铝合金进行扫描,以表征比基底金属更亮的颗粒。该颗粒表显示了 65k 个颗粒中的大部分包含一部分铁、锰和铜。样品由 GKN Aerospace 提供。
                 
                Metal cross-section imaged with STEM, revealing precipitates and dislocations.
                用聚焦离子束制备的金属横截面的 STEM 图像,清楚地揭示了沉淀(左框)和错位(右框)。图像宽度约 10 μm。
                Chromium, nickel and copper in a stainless steel medical device, identified with EDS elemental analysis.
                采用 PFIB 铣削制成不锈钢医疗器械样品,总尺寸为 55 x 70 mm。过夜元素 EDS 分析(蓝色,左 = 铬;绿色,中间 = 镍;黄色,右 = 铜)显示整个样品中存在大量铜沉淀物。
                 
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                  通过 APW 对氮化钛纳米颗粒进行表征的镍基高温合金样品。

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                    通过 APW 定量的高强度低合金钢沉淀物的碳复型。

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                      AlMgSi 合金中沉淀物的 3D EDS TEM 断层扫描。

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                        在增材制造的不锈钢中显示复合物特征的高分辨率 APW。

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                          Maps and Avizo2D recordings (left and right) running side by side during an acquisition.

                          网络讲座

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                            网络讲座:通过自动化 TEM 表征纳米颗粒。

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                              网络讲座:航空航天和国防工业相关显微镜

                              TEM 文章

                              Ti\\Al 系统中 Ti3Al 定向沉淀的纳米级起源

                              Hao Wu, Guohua Fan, Lin Geng, Xiping Cui, Meng Huang

                              DOI 链接


                              热处理对增材制造和锻造 17-4PH 不锈钢显微结构演变的影响

                              Yu Sun, Rainer J. Hebert, Mark Aindow

                              DOI 链接


                              H 相沉淀物的相干应变及其对镍钛铪形状记忆合金功能特性的影响

                              Behnam Amin-Ahmadi,⁎, Joseph G. Pauza, Ali Shamimi, Tom W. Duerig, Ronald D. Noebe, Aaron P. Stebner

                              DOI 链接


                              激光扫描长度对增材制造的 17-4PH 不锈钢薄壁零件显微结构的影响

                              Yu Sun, Rainer J. Hebert, Mark Aindow

                              DOI 链接


                              选择性激光熔化技术生产的 17-4PH 不锈钢零件中的非金属夹杂物

                              Yu Sun, Rainer J. Hebert, Mark Aindow

                              DOI 链接


                              SDB 文库网络讲座来源(仅供参考)

                              Joachim Mayer, RWTH Aachen

                              “滚动接触疲劳下 SAE 52100 轴承钢中白蚀区的形成 - 扩散氢的影响”
                              M. Oezel, A. Schwedt, T. Janitzky, R. Kelley, C.Bouchet-Marquis, L. Pullan, C. Broeckmann, J. Mayer
                              Wear, Volumes 414-415, November 2018, Pages 352-365.

                              DOI 链接


                              Philip Withers, University of Manchester

                              “工业齿轮油:摩擦学性能和次表面变化”
                              Aduragbemi Adebogun, Robert Hudson, Angela Breakspear, Chris Warrens, Ali Gholinia, Allan Matthews, Philip Withers Tribology Letters (2018) 66:65.

                              DOI 链接


                              Jun Tan, Shenyang National Laboratory for Materials Science

                              “通过与高分辨率 TEM 相关的双束 FIB/SEM 系统了解碳素钢的大气腐蚀”
                              Corrosion Science 152 (2019) 226–233.

                              DOI 链接


                              Yu-Lung Chiu, University of Birmingham

                              “焊接涡轮盘高温合金的微拉伸强度”
                              K.M.Oluwasegun, C. Cooper, Y. L. Chiu, I.P. Jones, H. Y. Li, G. Baxter
                              Materials Science & Engineering A 596 (2014) 229–235.

                              DOI 链接


                              Chris Pistorius, Carnegie Mellon University

                              “等离子体 FIB 在钢中单氧化物夹杂物分析中的应用”
                              D. Kumar, N.T.Nuhfer, M.E.Ferreira and P.C.Pistorius
                              Metallurgical and Materials Transactions B, Volume 50B, June 2019, Pages 1124-1127.

                              DOI 链接


                              应用

                              采用电子显微镜进行过程控制

                              采用电镜进行过程控制

                              现代工业需求高通量、质量卓越、通过稳健的工艺控制维持平衡。SEM扫描电镜TEM透射电镜工具结合专用的自动化软件,为过程监控和改进提供了快速、多尺度的信息。

                              使用电子显微镜进行质量控制和故障分析

                              质量控制和故障分析

                              质量控制和保证对于现代工业至关重要。我们提供一系列用于缺陷多尺度和多模式分析的 EM电子显微镜和光谱工具,使您可以为过程控制和改进做出可靠、明智的决策。

                              使用电镜进行基础材料研究

                              基础材料研究

                              越来越小的规模研究新型材料,以最大限度地控制其物理和化学特性。电子显微镜为研究人员提供了对微米到纳米级各种材料特性的重要见解。

                              使用扫描电镜(SEM)进行部件清洁度检测时发现铝矿物颗粒

                              组件清洁度检测

                              现今比以往任何时候都更需要可靠、高质量的组件。借助扫描电镜,可以实现备件清洁度分析,获得多种分析数据,从而缩短生产周期。


                              Style Sheet for Komodo Tabs

                              技术

                              (S)TEM 样品制备

                              DualBeam显微镜可制备用于(S)TEM分析的高质量、超薄样品。借助先进的自动化技术,任何经验水平的用户都可以获得各种材料的专家级结果。

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                              3D 材料表征

                              材料开发通常需要多尺度3D表征。DualBeam仪器可实现大体积连续切片和随后纳米级的SEM成像,可用于样品的高质量3D重建。

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                              能量色散谱EDS

                              能量色散谱(EDS)可采集详细的元素信息以及电子显微镜图像,为电镜观察提供关键的组成背景。利用EDS可通过快速、整体的表面扫描至各个原子以确定化学成分。

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                              EDS元素分析

                              EDS为电子显微镜观察提供重要的组分信息。尤其是我们独特的Super-X和Dual-X检测器系统添加了提高通量和/或灵敏度的选项,使您可以优化数据采集以满足您的研究优先级。

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                              3D EDS断层扫描

                              现代材料研究越来越依赖于三维的纳米级分析。3D电镜和能量色散X射线光谱可以3D表征包括整个化学和结构背景下的组分数据。

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                              ColorSEM

                              通过实时采集SEM和EDS信息以及实时定量功能,ColorSEM技术将SEM图像转化为彩色图像。现在任何用户都可以实时获取元素信息,得到比以往任何时候更多的完整信息。

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                              交叉切片

                              交叉切片通过揭示亚表面信息提供额外的剖析。DualBeam仪器配备卓越的聚焦离子束色谱柱,可实现高质量的交叉切片。借助自动化技术,可实现无人参与的高通量样品处理功能。

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                              原位实验

                              需要通过电子显微镜直接实时观察微观结构变化,以便了解在加热、冷却和润湿过程中的动态过程(如再结晶、晶粒生长和相变)的基本原理。

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                              颗粒分析

                              颗粒分析在纳米材料研究和质量控制中发挥着重要作用。纳米级分辨率和卓越的电子显微镜成像可以与专用软件相结合,以快速表征粉末和微粒。

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                              X射线光电子能谱

                              X射线光电子能谱 (XPS) 能够进行表面分析,提供材料最上面10 nm的元素组成以及化学和电子状态。借助深度剖析,XPS分析可以扩展到各层的组成部分。

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                              自动化颗粒工作流程

                              自动化纳米颗粒工作流程(APW)是一种用于纳米颗粒分析的透射电子显微镜工作流程,提供纳米级大面积、高分辨率的纳米级成像和数据采集,并进行即时处理。

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                              (S)TEM 样品制备

                              DualBeam显微镜可制备用于(S)TEM分析的高质量、超薄样品。借助先进的自动化技术,任何经验水平的用户都可以获得各种材料的专家级结果。

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                              3D 材料表征

                              材料开发通常需要多尺度3D表征。DualBeam仪器可实现大体积连续切片和随后纳米级的SEM成像,可用于样品的高质量3D重建。

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                              能量色散谱EDS

                              能量色散谱(EDS)可采集详细的元素信息以及电子显微镜图像,为电镜观察提供关键的组成背景。利用EDS可通过快速、整体的表面扫描至各个原子以确定化学成分。

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                              EDS元素分析

                              EDS为电子显微镜观察提供重要的组分信息。尤其是我们独特的Super-X和Dual-X检测器系统添加了提高通量和/或灵敏度的选项,使您可以优化数据采集以满足您的研究优先级。

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                              3D EDS断层扫描

                              现代材料研究越来越依赖于三维的纳米级分析。3D电镜和能量色散X射线光谱可以3D表征包括整个化学和结构背景下的组分数据。

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                              ColorSEM

                              通过实时采集SEM和EDS信息以及实时定量功能,ColorSEM技术将SEM图像转化为彩色图像。现在任何用户都可以实时获取元素信息,得到比以往任何时候更多的完整信息。

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                              交叉切片

                              交叉切片通过揭示亚表面信息提供额外的剖析。DualBeam仪器配备卓越的聚焦离子束色谱柱,可实现高质量的交叉切片。借助自动化技术,可实现无人参与的高通量样品处理功能。

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                              原位实验

                              需要通过电子显微镜直接实时观察微观结构变化,以便了解在加热、冷却和润湿过程中的动态过程(如再结晶、晶粒生长和相变)的基本原理。

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                              颗粒分析

                              颗粒分析在纳米材料研究和质量控制中发挥着重要作用。纳米级分辨率和卓越的电子显微镜成像可以与专用软件相结合,以快速表征粉末和微粒。

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                              X射线光电子能谱

                              X射线光电子能谱 (XPS) 能够进行表面分析,提供材料最上面10 nm的元素组成以及化学和电子状态。借助深度剖析,XPS分析可以扩展到各层的组成部分。

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                              自动化颗粒工作流程

                              自动化纳米颗粒工作流程(APW)是一种用于纳米颗粒分析的透射电子显微镜工作流程,提供纳米级大面积、高分辨率的纳米级成像和数据采集,并进行即时处理。

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                              产品

                              仪器卡片原件样式表

                              Talos F200S TEM

                              • 精确的化学成分数据
                              • 用于动态显微镜的高性能成像和精确成分分析
                              • 配有 Velox 软件、可实现快速、轻松的获取和分析多模态数据

                              Talos F200X TEM

                              • 高质量、高分辨率的(S)TEM成像和精确的EDS
                              • 可提供高分辨率、高亮度(冷)场发射枪
                              • 可提供具有终极清洁度的柱内Super-X G2 EDS

                              Talos F200C TEM

                              • 灵活的 EDS 分析可提供化学信息
                              • 高对比度、高质量 TEM 和 STEM 成像
                              • Ceta 16 Mixel CMOS 相机提供了宽视野和高读取速度

                              Talos F200i TEM

                              • 高质量、高分辨率的(S)TEM成像和灵活的EDS
                              • 可使用高分辨率、高亮度(冷)场发射枪
                              • 可提供双EDS,以获得最高的分析产量

                              Helios 5 DualBeam

                              • 全自动、高质量、超薄 TEM 样品制备
                              • 高通量、高分辨率的亚表面和 3D 表征
                              • 快速纳米原型设计能力

                              Helios 5 PFIB DualBeam

                              • 无镓 STEM 和 TEM 样品制备
                              • 多模式亚表面和 3D 信息
                              • 新一代 2.5 μA 氙气电浆 FIB 色谱柱

                              Scios 2 DualBeam

                              • 完全支持磁性及不导电样品
                              • 高通量亚表面和 3D 表征
                              • 先进的易用性和自动化功能

                              Apreo 2 SEM

                              • 高性能 SEM、适用于纳米或纳米以下的所有圆分辨率
                              • 用于敏感电视率材料对比度的列内 T1 反向散射检测器
                              • 长工作距离 (10 mm) 下性能出色

                              Phenom Pharos G2 Desktop FEG-SEM

                              • 1 至 20 kV 加速电压范围的 FEG 源
                              • <2.0 nm (SE) 和 3.0 nm (BSE) 分辨率(20 kV 时)
                              • 可选的完全集成 EDS 和 SE 检测器

                              Phenom 微粒 X TC 台式扫描电镜

                              • 功能多样的桌面 SEM ,带有自动化软件,可用于技术清洁
                              • 分辨率 <10 nm;放大率高达 200,000 倍
                              • 可选 SE 检测器

                              Nexsa G2 XPS

                              • 微焦点 X 射线源
                              • 独特的多技术选项
                              • 用于单原子和簇离子深度剖析的双模式离子源

                              K-Alpha XPS

                              • 高分辨率 XPS
                              • 快速、高效、自动化的工作流程
                              • 用于深度剖析的离子源

                              ESCALAB QXi XPS

                              • 高光谱分辨率
                              • 多技术表面分析
                              • 丰富的样品制备和扩展选项

                              Avizo 软件
                              材料科学

                              • 支持多数据/多视图、多通道、时间序列、超大数据
                              • 先进的多模式 2D/3D 自动配准
                              • 伪影消除算法

                              Athena 软件
                              成像数据管理

                              • 确保图像、数据、元数据和实验工作流程的可追溯性
                              • 简化您的成像工作流程
                              • 促进协作
                              • 保护和管理数据访问​

                              AutoTEM 5

                              • 全自动原位 S/TEM 样品制备
                              • 支持上下、平面和翻转几何结构
                              • 高度可配置的工作流程
                              • 易于使用、直观的用户界面

                              Maps 软件

                              • 获得大面积的高分辨率图像
                              • 轻松发现感兴趣区
                              • 自动化图像采集过程
                              • 关联不同来源的数据

                              3D 重构

                              • 直观的用户界面、可最大限度提高用户使用能力
                              • 直观的全自动用户界面
                              • 基于 " 阴影形状 " 技术、无需阶段倾斜

                              Metallurgical样品支架

                              • 旨在支持树脂安装样品
                              • 用于冶金和与刀片配合使用时的首选解决方案
                              • 样品尺寸最大至 32 mm 直径和 30 mm 高度

                              μHeater

                              • 用于原位高分辨率成像的超快速加热解决方案
                              • 全集成:
                              • 温度最高可达 1200 °C

                              Tensile 样品支架

                              • 确定批次质量
                              • 确定生产一致性
                              • 帮助设计流程

                              Velox

                              • 处理窗口左侧的实验面板。
                              • 活细胞定量分析
                              • 交互式探测器布局界面用于可重复的实验控制和设置
                               
                               

                              用于将 H2 样式更改为具有 em-h2-header 类 p 的样式表

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